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基于双微透镜阵列视场切割的谱成像方法及系统设计.pdf

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    摘要

    快照式成像光谱仪结合光学成像和光谱学技术，能够通过光谱反射率、发射率

    等特性，对不同物体进行快速、准确的识别和分类。快照式积分视场成像光谱仪

    (Integralfieldimagingspectrometer,IFIS)利用掩膜孔径切割视场并采样光线，通过缩

    小掩膜孔径以获取更高光谱分辨率。掩膜的使用同样降低了能量透过率并导致光谱

    弯曲，影响光谱成像质量。针对上述问题，本文改进视场分割方式，以透镜阵列聚

    焦代替孔径采样，提出双微透镜阵列成像光谱仪(Dualmicrolens

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