基于双微透镜阵列视场切割的谱成像方法及系统设计.pdf

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摘要

快照式成像光谱仪结合光学成像和光谱学技术,能够通过光谱反射率、发射率

等特性,对不同物体进行快速、准确的识别和分类。快照式积分视场成像光谱仪

(Integralfieldimagingspectrometer,IFIS)利用掩膜孔径切割视场并采样光线,通过缩

小掩膜孔径以获取更高光谱分辨率。掩膜的使用同样降低了能量透过率并导致光谱

弯曲,影响光谱成像质量。针对上述问题,本文改进视场分割方式,以透镜阵列聚

焦代替孔径采样,提出双微透镜阵列成像光谱仪(Dualmicrolens

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