数显半径测量仪校准规范.docx

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数显半径测量仪校准规范

1范围

本规范适用于测量范围至700mm，且用弓高弦长法测量半径的数显半径测量仪的校准。

2引用文件

本规范引用下列文件：

JJF1001-2011通用计量术语及定义

JJF1059.1-2012测量不确定度评定与表示

JJF1094-2002 测量仪器特性评定

凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规范。

3术语

跨距：span

测架两侧测杆轴的中心距。

4概述

数显半径测量仪（弓高弦长法）（以下简称测量仪）是采用容栅位移传感器电子技术，以弓高弦长法原理，由测架两侧测杆和指示表测量杆组合直接测量圆弧半径的仪器，外观如图1所示。不同的圆弧尺寸，对应不同的测架，每个测架对应一个跨距，一般为10mm、20mm、30mm、60mm、100mm。

1324

1

3

2

4

数显指示表；2—测架；3—指示表测量杆；4—测架测杆

图1数显半径测量仪的结构示意图

5计量特性

5.1半径示值误差

5.2半径测量重复性

6校准条件

6.1环境条件

校准室内温度在（20±5）℃范围内，相对湿度不大于80%。校准前，数显半径测量仪与标准器平衡温度时间不少于2小时。

6.2校准用标准器及相应设备

校准时所需的校准用标准器及相应设备如表1所示，允许使用满足测量不确定度要求的其他测量标准及设备进行校准。

表1校准用标准器及相应设备

序号

仪器设备名称

技术要求

1

圆弧标准件

附录A

2

平板

（160×100～630×630）mm，0级

7校准项目和校准方法

7.1校准前准备

对测量仪工作状态进行功能检查，在确定没有影响其计量性能的因素后再进行校准。

7.2半径示值误差

将不同规格的测架依次安装于测量仪上，按使用说明在平板上对测量仪进行置零调整。确定测量模式（外圆弧或内圆弧），在测量仪的每个量程内大致均匀分布至少三点作为校准点（宜包含接近量程上、下限的点），选取相应圆弧标准件，重复测量3次并记录测量仪示值，取算术平均值作为该校准点测量结果，各校准点的算术平均值与圆弧标准件的半径实际值R的差值，即为该校准点的示值误差δ，按公式（1）计算：

δ=-R（1）

式中δ——校准点的示值误差，mm；

——校准点的仪器示值的平均值，mm；

R——相应圆弧标准件的半径实际值，mm。

7.3半径测量重复性

在测量仪有效测量范围，确定一个量程和测量模式，选用半径值约为二分之一量程的圆弧标准件，在相同位置重复测量该圆弧标准件5次，记录测量仪示值，按公式（2）计算仪器半径测量重复性s。

（2）

式中:——测量仪5次测量的最大值，mm；

——测量仪5次测量的最小值，mm。

8校准结果表达

经校准后的数显半径测量仪出具校准证书，校准证书应给出各校准项目的测量结果及扩展不确定度（见附录C）。

9复校时间间隔

由于复校时间间隔的长短是由数显半径测量仪的使用状况、使用者、设备本身质量等诸因素所决定的，因此，送校单位可根据仪器实际使用情况自主决定复校时间间隔。建议复校时间间隔一般为1年。

附录A

校准用标准器的技术要求和溯源方法

A.1技术要求

推荐校准用圆弧标准件的技术要求如表A.1所示

表A.1圆弧标准件的技术要求单位：mm

测架跨距

外圆弧测量（R）

内圆弧测量（R）

测量范围

半径标称值

测量范围

半径标称值

10

5～13

7、10、12

6.5～15

8、10、14

20

11～30

12、20、26

14～30

14、20、28

30

22～100

26、60、96

27～100

28、60、96

60

94～260

96、180、258

94～260

96、180、258

100

225～700

258、450、650

225～700

258、450、650

圆弧标准件的圆弧角≥120°，半径尺寸不确定度小于0.001R（k=2），工作面的圆柱度小于0.001R。

A.2溯源方法

圆弧标准件半径溯源方法：

使用三坐标测量机，在圆弧标准件（如图A.1、A.2）的中截面上使用仪器扫描测头测量模式测量，测量范围需超过圆弧面整体的2/3，评价出圆弧半径值。

图A.1外圆弧标准件示意图

图A.2内圆弧标准件示意图

A.2.2圆弧标准件圆柱度溯源方法：

使用三坐标测量机，在圆弧标准件工作面上使用仪器扫描测头测量模式测量，测量范围需超过圆弧面整体的2/3，推荐至少测量3层。拟合圆柱，计算圆柱度。

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