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TS16949实验室手册--MSA测量系统分析工作内容及步骤

7.7.1测量系统分析前的准备

7.7.1.1先计划将要使用的方法。如均值和极差法等。

7.7.1.2确定评价人、评价的样品数量及重复读数次数。

7.7.1.3进行评定时对评价人的选择应从从事该仪器的人中选定。

7.7.1.4样品必须从过程中选取并能代表其整个工作范围。因为每个零件将被测量若干次，因此必

须对每个零件编号以便于识别。

7.7.1.5仪器的分辨力应允许至少直接读取特性的预期过程变差的十分一。例如：如果特性的变差

为0.001，仪器应能读取0.0001的变化。

7.7.1.6确保测量方法（即评价人和仪器）在按照规定的测量步骤测量特性尺寸。

a.测量应按照随机顺序，以确保整个分析过程中产生的任何漂移或变化将随机分布。

b.评价人不应知道正在检查零件的编号，以避免可能的偏倚。但是，进行分析的人应知道正在检

查哪一零件，并相应记录下数据，即评价人A，零件1，第一次试验；评价人B，零件4，第二次试验

等。

c.在设备读数中，读数应估计到可得到的最接近的数字。如果可能，读数应取至最小刻度的一半。

d.分析工作应由质保部及各单位的技术人员进行。

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e.每位评价人应采用相同方法及步骤来获得读数。

7.7.2评价测量系统时,需要确定的三个基本问题。

7.7.2.1需要评价的测量系统有无足够的分辨力;

7.7.2.2需要评价测量系统在一定时间内是否在统计上保持一致;

7.2.3这些统计性能在预期限范围内是否一致,并且用于过程分析或控制是否可接受。

7.7.3测量系统存在的误差

7.7.3.1测量系统的误差的类型有以下五种：

a.偏移b.重复性c.再现性d.稳定性e.线性

示意图：

图偏倚图重复性

图再现性图稳定性

图线性1图线性2(变化的线性偏倚)

7.7.3.2偏移引起的变差

a.为了在过程范围内指定的位置确定测量系统的偏倚，就必须得到一个可接收的基准值。

b.基准值可以通过对一个基准件进行精密测量得到。

c.让评价人用正被评价的量具测量同一零件至小10次。

d.计算读数的平均值。从而得到偏倚（基准值与平均值之间的差值就表示测量系统的偏倚）。

e.再计算偏倚占过程变差（或容差）的百分比，即[偏倚/

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过程变差(容差)]×100

7.7.3.3重复性引起的变差

a.重复性误差一般是由仪器自身及零件在仪器中位置变化的测量变差。

b.可以用极差图进行分析，因为子组重复性测量的极差代表了这两种变差。

c.如果极差图失控，应调查识别为失控的点的不一致性原因，并加以纠正。（除测量系统分辨率不

足外）。

7.7.3.4再现性引起的变差

a.再现性误差是评价人的变异性即每位评价人造成的递增偏倚。

b.通过平均每位评价人获得的所有样品值来计算各位评价人平均值，确定评价人平均值的极差。

c.如果由于量具变差影响了该估计值，必须通过减去重复性部分来校正。

7.7.3.5线性引起的变差

a.在测量仪器的工作范围内选择一些零件可确定线性。

b.确定各个被测零件的偏倚。

c.线性图就是在整个工作范围内的这些偏倚与基准值之间描绘的。

d.线性是由最佳拟合直线的斜率面不是拟合优度（R2）的值确定。一般地，斜率越低，量具线性

越好；相反斜率越大，量具线性越差。

7.7.4测量系统误差的计算

均值和极差法(R)是一种提供测量系统重复性和再现性估计的数学办法，它允许把测量系统分解

成两部分，重复性和再现性，而不是交互作用，它可提供有关测量系统或量具误差的信息。

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