纳米测量与表征.ppt

4.2纳米材料的表征纳米材料的粒度分析纳米材料的形貌分析成分分析纳米材料的结构分析1234纳米材料表面与界面分析5第125页,共133页，星期六，2024年，5月纳米材料的粒度分析1第126页,共133页，星期六，2024年，5月纳米材料的粒度分析1第127页,共133页，星期六，2024年，5月材料的形貌尤其是纳米材料的形貌是材料分析的重要组成部分，材料的很多物理化学性能是由其形貌特征所决定的。纳米材料常用的形貌分析方法主要有扫描电子显微镜法（SEM）、透射电子显微镜法（TEM）、扫描隧道显微镜法（STM）和原子力显微镜法（AFM）。纳米材料的形貌分析2第128页,共133页，星期六，2024年，5月纳米材料的元素组成以及材料中杂质的种类和浓度，对纳米材料的性能至关重要，因此它的策略不可或缺。纳米材料的成分分析方法按照分析目的的不同，又分为体相元素成分分析、表面成分分析和微区成分分析等方法。成分分析3第129页,共133页，星期六，2024年，5月体相：原子吸收、原子发射、ICP质谱以及X射线荧光与衍射分析方法。表面：X射线光电子能谱（XPS)分析方法、俄歇电子能谱（APS）分析方法、电子衍射分析方法和二次离子质谱（SIMS）分析方法等。这些方法能够对纳米材料表面化学成分、分布状态与价态、表面或界面的吸附和扩散反应的状况等进行测定。微区：电子显微镜、红外光谱、紫外光谱、质谱等。成分分析3第130页,共133页，星期六，2024年，5月人们已经了解到，不仅纳米材料的成分和形貌对其性能有重要影响，纳米材料的物相结构和晶体结构对材料的性能也有重要的影响。目前，常用的物相分析方法有X射线衍射分析、激光拉曼分析以及微区电子衍射分析等。纳米材料的结构分析4第131页,共133页，星期六，2024年，5月固体材料的表面与界面分析已发展为纳米薄膜材料研究的重要内容，特别是对于固体材料的元素化学态分析、元素三维分布以及微区分析。目前，常用的表面和界面分析方法有：X射线光电子能谱（XPS)分析方法、俄歇电子能谱（APS）分析方法、静态二次离子质谱（SIMS）和离子散射谱（ISS）。纳米材料表面与界面分析5第132页,共133页，星期六，2024年，5月感谢大家观看第133页,共133页，星期六，2024年，5月********切仑科夫（PavelAlekseyevichCherenkov,1904-1990）、弗兰克（IlyaMikhailovichFrank,1908-1990）和塔姆（IgorYevgenyevichTamm,1895-1971）因发现并解释了切伦科夫现象，共同分享了1958年度诺贝尔物理学奖。所谓切伦科夫效应，是指当带电粒子在某透明介质中以大于光介质中的速度传播时，这种带电粒子就会发出一种特殊的波。为了纪念切伦科夫的发现，后来把这种现象称为“切伦科夫效应”.前人根据切伦科夫效应的原理制成了宇宙射线计数器。**电子照明系统样品台电磁透镜成像系统放大系统数据记录系统**硅膜元素符号：Au??英文名：Gold??中文名：金******衬度1.定义：

成像衬度是光学显微镜的另一个关键问题，所谓衬度，即是像面上相邻部份间的黑白对比度或颜色差，人眼对于0.02以下的亮度差别是很难判定的，对颜色差别则稍微敏感一些。有些显微镜观察对象，如生物标本，其细节间亮度差别甚小，加之显微镜光学系统设计制造误差使其成像衬度进一步降低而难于分辨，此时，看不清物体细节，不是总放大倍率过低，也不是物镜数值孔径太小，而是由于像面衬度太低的缘故。**solder[s?ld?]?词典解释：vi.焊接?**eyepiecelens目镜；目镜透镜fluorescentscreen荧光屏；萤光板；荧光幕projectorlens..投影透镜specimen[spesimin,-m?n]n.样本,标本deflector[diflekt?]n.导向装置；偏针仪，导流板filament[fil?m?nt]n.细丝,细线,单纤维viewingscreen观察屏；显示屏幕detector[ditekt?]n.探测器********K系射线中，Kα射线相当于电子由L层跃迁到K层产生的射线，CuKα是指采用Cu的Kα射线。********利用某一衍射峰的宽化，可计算纳米粒子的尺寸，即谢乐尔(Sherrer)公式：Dhkl=kλ/(cosθ??Bhk