Process Control软件：Nanometrics二次开发_（5）.控制图与统计过程控制.docxVIP

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2024-11-08 发布于辽宁
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Process Control软件：Nanometrics二次开发_（5）.控制图与统计过程控制.docx

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控制图与统计过程控制

引言

控制图是统计过程控制（SPC）中的一种重要工具，用于监控和分析生产过程中产品质量的波动。通过控制图，可以识别出过程中的异常波动，从而采取相应的措施进行调整，确保生产过程的稳定性和产品质量的可靠性。在Nanometrics软件中，控制图的二次开发可以进一步提升其在实际生产中的应用效果，帮助用户更高效地进行过程控制。

控制图的基本概念

控制图是一种图形工具，用于显示生产过程中某个特性值随时间的变化情况。控制图主要包括以下几个部分：

中心线（CL）：表示过程的平均值。

上控制限（UCL）：表示过程的上限。

下控制限（LCL）：表示过