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《晶体光学及光性矿物学》复习提纲

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5）斜交切面：椭圆切面。长短半径分别为Ng’和Np’（Ng’大小介于Ng与Nm之间；Np’大小介于Nm与Np之间），双折射率等于Ng’-Np’。

26．光性方位：指光率体在晶体中的位置，即光率体主轴（No、Ne轴或Ng、Nm、Np轴）与结晶轴（a、b、c轴）之间的相互关系。对低级晶族（二轴晶）矿物具有重要的鉴定意义。

第二章偏光显微镜

（透射）偏光显微镜是岩矿综合鉴定的精密光学仪器，与一般生物显微镜的主要区别在于安装有两个偏光镜。本章教学目的是结合实物使学生了解偏光显微镜的基本构成、必备附件、使用方法及养护规则。?

偏光显微镜的构成?

机械系统主要部件?

（1）镜座与镜臂：支撑显微镜及连接光源、物台、镜筒。

（2）镜筒：连接目镜和物镜的部件.?

（3）物镜转换器：用于安装、选择不同倍数的物镜。?

（4）载物台：放置薄片用的可3600转动的圆形平台?

（5）焦准设备(升降系统)：分粗调和微调，作用是调节焦距，使物象清晰。?

（6）聚光镜架：连接聚光镜、下偏光镜、上锁光圈等的部件。

?（7）上、下锁光圈：控制光的通过量。?

光学系统主要部件?

（1）光源：分为自然光源和人工光源，目前多数显微镜采用人工光源。?

（2）下偏光镜：在聚光镜架底部，作用是把自然光转变为偏光。其振动方向一般为东西向。?

（3）聚光镜：在聚光镜架上部，作用是把偏光转变为锥光，使显微镜处于偏光系统。?

（4）物镜：由多组透镜组成，连接在物镜转换器上，是决定放大倍数及成像质量的重要部

件。按放大倍数分为三类：?

高倍镜（40倍和100倍）中倍镜（10倍和20倍）、低倍镜（2.5′和4四倍）。?

（5）目镜：由眼透镜和场透镜组成。目镜中附有十字丝，倍数有10倍和8倍两种。?

（6）上偏光镜：位于目镜和物镜间，振动方向与下偏光振动方向垂直，可自由推入或拉出。?

（7）勃氏镜：位于目镜和上偏光镜间，可自由的推入或拉出，与聚光镜和高倍镜配合使用。

二、偏光显微镜的调节与校正?

选择并装配物镜和目镜：按需要选择物镜和目镜，在安装目镜时注意其内十字丝的方向。?2调节照明：打开光源灯，调节变压器旋扭，直到亮度适度为止。?

焦准：将薄片置于物台上，在教师指导下，用粗调或微调调焦至物象清晰。在此过程中，

千万注意，物镜前透镜不要与薄片接触，以免打碎薄片或损坏镜头。?

物镜中心的校正：物台旋转轴、物镜中轴、镜筒中轴、目镜中轴必须保持在一条直线上，

偏光显微镜才能正常使用，目前有关物镜中心的校正将由指导教师来完成。?

下偏光镜的检查：下偏光镜的振动为东西向。当黑云母的解理平行下偏光镜的振动方向时

颜色最深，据此可以检查、调节下偏光镜的振动方向。?2上偏光镜的检查：移去薄片，视域黑暗，说明上偏光振动方向与下偏光振动方向互相垂直。

否则，需要进行调节，调节工作由指导教师来完成。

第三章单偏光镜下的晶体光学性质

1．单偏光镜下载物台上放置矿片时视域的光学特点；

（1）放置均质体矿片

当物台上放置均质体矿(物)片时，透出矿片的偏光振动方向仍然平行偏光振动方向，矿片显示偏光透过矿片时的光学性质。由于均质体光性各向同性，旋转物台时光学性质不变。

（2）放置非均质体矿片；

①非均质体垂直光轴切面的矿片（除矿物形态，旋转载物台矿物光学性质没有变化）；

②非均质体斜交光轴切面的矿片（除矿物形态，旋转载物台矿物光学性质有变化）；

2．矿物形态

矿物的形态是几何特征，不属于光学性质。显微镜下观察到的矿物形态与矿物本身的结晶习性与切片方向有关，确定一种矿物的整体外形，必须考虑不同的切片方向的形状及综合手标本上矿物的形态。（切面形态，单体形态，集合体形态）。

3．解理：矿物受外力作用后沿一定结晶学方向裂成光滑平面的性质，是鉴定矿物的特征之一。在显微镜下见到的不是解理面本身，而是解理面与薄片平面的交线，这些交线一般为明显的黑线，称为解理缝。

4．.解理的完善程度分为三级：

（1）.极完全解理：解理缝细，密，长，贯穿整个晶体；如云母类的解理

（2）.完全解理：解理缝之间间距较宽，不完全连续；如角闪石和辉石类的解理

（3）.不完全解理：解理缝断断续续，有时仅见解理缝痕迹；如橄榄石

5．解理缝可见临界角：解理面与切面有交线，理论上会见到解理纹，但由于光学原理，交角增大到某一极限值时，显微镜下就见不到它了，这个极限值就叫做解理纹可见临界角。即当小于临界角时才能见到解理缝。解理缝纹可见临界角取决于N矿与N胶的差值，差值愈大，临界角愈大；差值愈小，临界角愈小。

6．解理夹角的测定：解理夹角即两个解理面的夹角。定解理夹角，必须选择同时垂直两组解理面的切面，在此切面上测量两组解理纹的夹角。

测量解理夹角的操作步骤如下：

(1)选择同时垂直两组解理