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摘要1
关键词1
Abstract1
1引言1
2测试的基本概念2
2.1测试的原理2
2.2测试的环节2
2.3测试的可靠性3
2.4测试的分类3
3测试的难度3
4测试方法4
4.1多工位测试4
4.2SIP测试4
4.3IDDQ测试4
4.4DFT测试.5
4.4.1集成电路的可测试质量评价5
4.4.2可测试性设计的目标5
4.4.3效益和成本的分析5
4.4.4三种DFT方案的对比分析6
4.4.5DFT技术的应用策略7
4.5系统测试7
4.6模拟和混合信号测试7
5总结8
致谢9
参考文献
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