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材料研究方法
ResearchMethodsofMaterials;3X射线技术;3;4;X射线的历史
1895年,著名的德国物理学家伦琴发现了X射线;
1912年,德国物理学家劳厄等人发现了X射线在晶体中的衍射现象,确证了 X射线是一种电磁波。
1912年,英国物理学家Bragg父子利用X射线衍射测定了NaCI晶体的结构,从此开创了X射线晶体结构分析的历史。;X射线
德国科学家伦琴,1895年
使相片底片感光,并有很强的穿透力
X射线的应用
科学研究(XRD)
医疗(透视)
技术工程(无损探伤);X射线的物理基础
–性质(本质); X射线具有很高的穿透能力,可以穿过黑纸及许多对于可见光不透明的物质;
X射线肉眼不能观察到,但可以使照相底片感光。在通过一些物质时,使物质原子中的外层电子发生跃迁发出可见光;
X射线能够杀死生物细胞和组织,人体组织在受到X射线的辐射时,生理上会产生一定的反应。;可以用X射线源(X射线机)、同步辐射源(产生特别高的X射线
)、放射性X射线源来产生X射线。
原理(条件):高速运动的自由电子被突然减速便产生X射线。;高速运动的电子流;X射线机的结构
–X射线管、高压变压器、电压电流的调节稳定系统,另有辅助设备及电路,以确保其工作稳定、可靠与安全。;X射线管
使用最广泛的是封闭式热阴极X射线管
,包括一个热阴极(绕成螺线形的钨丝)和一个阳极(靶),窗口,管内高真空(10-7Torr)
阳极:铜质底座上镶以阳极靶材料—
—W、Ag、Mo、Cu、Ni、Co、Fe、Cr等,产生不同的特征X射线
窗口:用对X射线吸收极少的材料,如
Be、Al、轻质玻璃等制成。;;–X射线谱;–任何高速运动的带电粒子突然减速时,都会产生电磁辐射,由于热阴极灯丝产生的热电子高速撞击阳极时间和条件各不相同
,部分还多次撞击,逐步转移(或释放)其能量,从而产生各种不同波长的X射线,构成连续的X射线谱。;16;标识X射线
作为阳极材料的特征或标识,当管电压超过VK(激发电压)后才产生。
利用原子结构观点解释:当管电压大于VK时,可将阳极材料中k层电子撞击出来,在k层中形成一个空位,这个过程称为激发,VK为k系的激发电压。;根据能量最低原理,L、M、N、……中??电子跃迁进入k层空位,多余的能量以X射线光子形式释放,X射线的频率由两者的能级差决定,
E=h?n2-n1
对L、M、N、……各层中电子跃入K层空位时发出的X射线分别称为K?、K?、K?、……谱线
,并组成K系标识X射线,同样有L系、M系等标识X射线,并共同构成该原子的标识X射线谱
,但L系、M系等标识X射线波长都很长,强度弱,易被物质吸收,主要使用的是K系X射线。;;3.2XRD;X射线衍射的几何条件
X射线通过物质(晶体)后衍射线特征包括
向(空间的分布规律)和 ,其中衍射线的
方向与晶体的点阵参数(晶胞大小和形状)、入射线的方位及X射线波长有关,具体表现为三个方程式:劳厄方程式、布拉格定律和倒易空间衍射公式(厄瓦尔德图解。;布拉格方程式:2dSin?=?
Sin?=?/2d?1,d??/2
只有晶面间距d?/2的晶面才能产生衍射;
对于d一定的晶面,??2d才能产生衍射,实际上?与晶格参数差不多。
Bragg衍射方程重要作用:(1)已知? ,测?角,计算d;
(2)已知d 的晶体,测?角,得到特征辐射波长?,确定元素,X射线荧光分析的基础。;X射线通过晶体材料后衍射线束的强度,主要与晶体结构(包括晶胞中原子的种类、数目及排列方式)、晶体的完整性及参与晶体的体积有关。
根据衍射线束强度的测量和分析,可以得到与晶体结构及点阵畸变,多相混合物中各物质的相对含量等有关信息。
衍射线束的强度在衍射仪法中是由计数管直接测量,在照相法中用显微黑度计测量照相底片的感光黑度来实现。;–用衍射仪法测粉晶试样在不同衍射角的衍射强度时,一般得到的图谱,扣除背景值后每个衍射峰下的面积,称为累积强度,峰顶强度称为峰值强度Im,衍射峰峰值强度的一半(1/2Im)处衍射线的角宽度B称为半高宽。;;劳厄法(?变,?不变)
利用连续的X射线照射固定的单晶体,产生衍射的方法,应用最早,实验装置简单,包括光阑、试样架和平板底片匣。
劳厄法可分为透射和背射两种方法。一般透射法曝光时间为半小时,背射法为1小时,相对而言,背射法对试样的厚度和吸收没有特殊限制,应用较广,两种方法中,试样与底片之间的距离分别为5cm和3cm。;底片记录的衍射花样是由许多斑点组成,称为劳厄斑点,同一晶带的衍射斑点落在某一椭圆上(透射法),而背射法中落在双曲线上。
应用:主要用来测晶体的取向;
测晶体的对称性,鉴定晶体是否为单晶体及粗略地观察晶体的完整性。
应用时是利用底片上劳厄斑点的位置或花样用厄瓦尔德图解来
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