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测量方法:
1、擦干净陶瓷盘;
2、将陶瓷盘放在千分表的大理石上;
3、移动陶瓷盘,千分表表头接触陶瓷盘面,归零,找到陶瓷盘的零点位置;
4、将千分表表头接触wafer背表面,读出的数值即为wafer的厚度。
;一、wafer的减薄过程;;;关于研磨抛光破片的几种原因;应力和划痕是破片的主要原因;应力和划痕是破片的主要原因;应力和划痕是破片的主要原因;;24/7/29;芯片点分车间作用;点测工序;大圆片与方片的区别;分选工序;目检工序;24/7/29;封装后的成品;封装工艺简介;LED的五大物料与五大制程
;;固晶焊线示意图;;24/7/29;LED产品应用;第三剎車灯;通讯;一般照明;Thinks!
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