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材料分析试题汇总及答案

物相：物质中具有特定的物理化学性质的相

连续X射线：强度随波长连续变化的谱线

特征X射线：在连续谱的某些特定位置上出现的⼀系列强度很⾼。波长范围很窄得线，称为特征X射线

短波限：X射线管不同管电压下的连续谱存在的⼀个最短波长值

相⼲散射：再辐射的光量⼦频率和被吸收的光量⼦频率准确相等的散射。

⾮相⼲散射：在偏离原射束⽅向上的波长变长的散射。

光电效应：在光线照射在⾦属表⾯是，⾦属中有电⼦逸出的现象。

衍射⾓：发⽣衍射时，衍射线⽅向上与⼊射线⽅向的夹⾓。

⼲涉⾯：晶⾯间距为dHKL/n、⼲涉指数为nh、nk、nl的假想晶⾯称为⼲涉⾯

俄歇效应：原⼦中⼀个k层电⼦被⼊射光量⼦击出后，L层⼀个电⼦跃⼊k层填补空位，此时多余的能量不以辐射X光量⼦的⽅

式放出，⽽是另⼀个L层电⼦获得能量跃出吸收体，这样的⼀个K层空位被两个L层空位代替的过程。

系统消光：因原⼦位置和种类不同⽽引起的某些⽅向上衍射线消失的现象叫系统消光

结构因数：表征单胞的衍射强度反映单胞中原⼦种类，原⼦数⽬及原⼦位置对（HKL）晶⾯衍射⽅向上衍射强度的影响的因

数。

景深：透镜物平⾯允许的轴向偏差。

焦长：透镜像平⾯允许的轴向偏差。

晶带定理:零层倒易⾯上的各倒易⽮量都和晶带轴r=[kvw]垂直，故有g

=0即hu+kv+lw=0

hkl

衍射衬度：由于样品中不同位向的晶体的衍射条件（位向）不同⽽造成的衬度差别。

明场成像：让透射束通过物镜光阑⽽把衍射束挡掉得到图像衬度的⽅法。

暗场成像：把⼊射电⼦束⽅向倾斜2θ⾓度（通过照明系统的倾斜来实现），使B晶粒的(-h–k-l）晶⾯组处于强烈衍射的位

向，⽽物镜光阑仍在光轴位置。此时只有B晶粒的-h–k衍射束–l正好通过光阑孔，⽽透射束被挡掉。

双光束条件：晶体衍射时通常有多组晶⾯满⾜布拉格条件，在物镜背焦⾯形成多个衍射斑点若转动晶体使某⼀晶⾯组（hkl）

精确满⾜布拉格条件，⽽其他晶⾯组都偏离较多，此时所得衍射谱除中⼼有⼀个很亮的透射斑之外，还有⼀个很亮的（hkl）

衍射斑，⽽其他衍射斑都很弱这种衍射条件称为双“光束条件”

⼆次电⼦：在⼊射电⼦束作⽤下被轰击出来并离开样品表⾯的样品原⼦的核外电⼦。

透射电⼦：如果被分析的样品很薄，那么就会有⼀部分⼊射电⼦穿过薄样品⽽成为透射电⼦。背散射电⼦：被固体样品中的原

⼦核反弹回来的⼀部分⼊射电⼦。

电⼦探针：踏实在电⼦光学和X射线光谱学原理的基础上发展起来的⼀种⾼效率分析仪器。能谱仪：⽤来测定X射线特征能量

的谱仪。

波谱仪：⽤来测定特征波长的谱仪。

简答题

1、试述布拉格⽅程2dHKLsinθ=λ中各参数的含义，以及该⽅程有哪些应⽤?

d为某⼀⾯⽹间距(可以把某⼀⾯⽹的n级衍射看成另⼀假想⾯(其⾯⽹间距dhkl=d/n）的⼀级衍射)，θ为掠射⾓，2θ称衍射

⾓；λ为⼊射X射线波长

布拉格⽅程的应⽤：

1）已知波长λ的X射线，测定θ⾓，计算晶体的晶⾯间距d，结构分析；

2）已知晶体的晶⾯间距，测定θ⾓，计算X射线的波长，X射线光谱学。

2、试叙述布拉格定律，并说明什么叫掠射⾓？什么叫衍射⾓？

考虑间距为d的平⾏晶⾯⼊射辐射射线位于低平⾯内，相邻平⾏晶⾯反射的衍射线⾏程差是2dsinx，当⾏程差是波长的整数倍

时，来⾃相继平⾯的辐射就发⽣了相互⼲涉，这就是布拉

掠射⾓——⼊射线与晶⾯夹⾓

衍射⾓——⼊射线与衍射线夹⾓

3、推导布拉格⽅程，并分析为何衍射线是有限的。

推导布拉格⽅程式：假定①X-ray单⾊且平⾏②晶体⽆限⼤且平整（⽆缺陷）

如右图：光程差为2dsinθ,要出现衍射条纹，则有：2dsinθ=nλ(n=1,2…)

此式即为布拉格⽅程。

4、多重性因数的物理意义是什么？某⽴⽅晶系晶体，其{100}的多重性因数是多少？如该晶体转变为四⽅晶系，这个晶⾯族的

多重性因数会发⽣什么变化？为什么？

答：多重性因数的物理意义是等同晶⾯个数对衍射强度的影响因数。

某⽴⽅晶系晶体，其{100}的多重性因数是6；如该晶体转变为四⽅晶系多重性因数是4；这个晶⾯族的多重性因数会随对称性

不同⽽改变。

5、洛伦兹因数是表⽰什么对衍射强度的影响？其表达式是综合了哪⼏⽅⾯考虑⽽得出的？答：洛伦兹因数是表⽰衍射的⼏何

条件对衍射强度的影响。它考虑了以下三个⽅⾯⽽得：1、衍射的积分强度2、参加衍射的晶粒分数3、单位弧长的衍射强度

6．何为系统消光？给出简单⽴⽅、⾯⼼⽴⽅、体⼼⽴⽅晶体结构电⼦衍射发⽣消光的晶⾯指数规律。

由于衍射线的相互⼲涉，某些⽅向的强度将会加强，⽽某些⽅向的强度将