材料现代分析检测方法复习 .docx

一、选择题

1、用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（）

X射线透射学B.X射线衍射学C.X射线光谱学D.其他

M层电子回迂到K层后，多余的能量放出的特征X射线称为（）

KaB.KβC.KγD.Lα

2、当X色好像发生装置是Cu靶，滤波片应选（）

CuB.FeC.NiD.Mo

3、当电子把所有能量转换为X射线时，该X射线波长称（）

A.短波限入0:B.激发限入k;c.吸收限;D.特征X射线

4、当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（）(多选题)

A.光电子:B.二次荧光:C.俄歇电子D.(A+C)

一组晶面间距从大到小的顺序:2.02A,1.43A，1.17A，1.01A，0.90A，0.83A,

0.76A......

5、用波长为入ka=1.94A的铁靶照射时，因入/2=0.97A，产生衍射的晶面组有（）个

A1B2C3D4

6、CuKa辐射(=0.154nm)照射某一样品，)fc.c测得衍射峰位置20=38°，计算样品点阵常数a。A.0.43101nmB.0.14013nmC.0.41031nmD.0.41013nm

7、（多选题）面心点阵中哪些干涉面不存在系统消光（）

A.(111）B。(100)C.(210)D.(211)E.(200)F.(110)

8、（多选题）体心点阵中哪些干涉面存在系统消光

A.(311)B.(310)C.(210)D.(211)E.(111)F.(110)

9、（多选题）下列关于定性分析描述正确的是

A.物相分析就是分析材料的种类或含量

B.多晶体物质的衍射线条的数目、位置以及强度可以成为鉴别物相的标志

C.根据衍射线条的位置、强度就可知道物相是什么，称为定量分析

D.根据不同物相衍射线强度的高低就可知道物相有多少，称为定性分析

E.PDF卡片中右上角的符号标记表示:0一数据高度靠;i一已指标化和估计强度，但可靠性不如前者。

10、（多选题）下列关于定量分析描述正确的是

A.参比强度法中物质A的K值，即K等于该物质与a-AI203等质量混合样的两相最强线的强度比

B.内标法的K值和K值法的K值，都与标准相加入量无关

C.内标法作为传统定量分析方法，存在较大的缺点如，绘制定标曲线需配制多个复合样，工作量大

D.通过测定样品中j相某条最强行射线的强度，并与纯j相同一衍射线强度对比，即可确定相在样品中的相对含量。

E.随相含量的增加,衍射线的强度增强

11、（多选题）下列关于点阵参数的精确测定描述正确的是

A.最小二乘法得到的a就是准确的点阵参数值，它消除了大部分误差，如，偶然误差等。

B.直线图解外推法难以满足更高精度要求的测定,这归因于,主观因素;图表的刻度有欠精确等

C.点阵参数测定应选择行射角尽可能高的行射线测量

D.相对于X射线衍射仪法，照相法测定的精度较高(0.02)，其误差除了与行射角测量精度有关外还有参数选择、仪器调整等复杂的误差

E.sin0的精度决定点阵参数a的精度

12、（多选题）下列关于物体内应力描述正确的是:

A.内应力是指产生应力的各种因素，如，外加载荷去除、加工完成、等不复存在时，残留在内部并保持自身平衡的力。

B.第Ⅲ类内应力指在若千个原子范围内存在并平衡的内应力。如各种晶体缺陷，这种平衡被破坏时会产生尺寸的变化。

C.第Ⅱ类内应力又称微观应力。其衍射效应主要引起衍射峰宽化。

D.X射线行射法属于无损法，具有快速、准确可靠测量区域小等优点

E.第I类内应力又称宏观应力或残余应力，其衍射效使行射强度降低

13、入射电子中与试样表层原子碰撞发生弹性散射和非弹性散射后从试样表面反射回来的那部分一次电子统称为（）

二次电子B.背散射电子C.反冲电子D.透射电子

14、（多选题）复型法制备TEM样品的类型有哪些?

塑料一级复型B.碳一级复型

塑料-碳二级复型D.抽取复型E.超薄切片

15、下面对透射电镜描述不正确的是()

A.利用透射电子成像B.观察细胞内部超微结构

C.可观察负染标本D.景深长、立体感强

16、TEM检测金属材料时，采用什么方法制备试样?

超薄切片B.电解抛光C.化学抛光D.离子轰击

17、TEM检测SiC和Zn0半导体材料时，采用什么方法制备试样?

超薄切片B.电解抛光C.化学抛光D.离子轰击

18、研究聚合物基纳米复合材料中纳米颗粒在聚合物基中分散与形态选用什么方法及制样方法?

A