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电容和介质损耗测量

一试验目的

测量介质损耗的目的是判断电气设备的绝缘状况。测量介质损耗因数在预防性试验

中是不可缺少的项目。因为电气设备介质损耗因数太大，会使设备绝缘在交流电压作用下，

许多能量以热的形式损耗，产生的热量将升高电气设备绝缘的温度，使绝缘老化，甚至造

成绝缘热击穿。绝缘能力的下降直接反映为介质损耗因数的增大。进一步就可以分析绝缘

下降的原因，女口：绝缘受潮、绝缘油受污染、老化变质等等。所以，在出厂试验时要进

行介质损耗的试验，运行中的电气设备亦要进行此种试验。测量介质损耗的同时，也能

得到试品的电容量。电容量的明显变化，反映了多个电容中的一个或几个发生短路、断路。

二概念及原理

介质损耗是绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内

部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。

在交流电压作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角为功率因数角

（（

①），而余角S）简称介损角。

介质损耗正切值tg又称介质损耗因数，是指介质损耗角正切值，简称介损角正切。

tg

介质损耗因数（）的测量在电气设备制造、绝缘材料电气性能的鉴定、绝缘的试

验等都是不可缺少的。因为测量绝缘介质的tg值是判断绝缘情况的一个较灵敏的试验方

法。在交流电压作用下，绝缘介质不仅有电导的损耗，还有极化损耗。介质损耗因数的

定义如下：

被测试品的有功功餐

介质摘耗因數（tg6）=

被测试品的无功功率

如果取得试品的电流相量二和电压相量口，则可以得到如下相量图:

IC

含损耗的

实际试品IC

纯电阻R纯电容C

总电流可以分解为电谷电流Ic和电阻电流IR合成，因此：

介质扌韻毛13数（tg勖=尸工100%=X100%=—X100%

QUI匚I

c

这正是损失角S=（90°①）的正切值。因此现在的数字化仪器从本质上讲，是

S（

通过测量或者①得到介损因数。有的介损测试仪习惯显示功率因数PF:cos①）,

（3

而不是介质损耗因数DF:tg）。一般cos①＜tg在损耗很小时这两个数值非常

接近。

三试验方法

根据试品的具体情况确定试验接线方式方法。

试验方法有外施和内施两种。外施是使用外部高压试验电源和标准电容器进

行试验，对介损仪的示值按一定的比例关系进行计算得到测量结果的方法。内施

是使用介损仪内附高压电源和标准器进行试验，直接得到测量结果的方法。

试验的接线方式有正接线和反接线两种。正接线是用于测量不接地试品的方法，测量时介损仪测量回

路处于地电位，而反接线是用于测量接地试品的方法，测量时介损仪测量回路处于高电位，他与外壳之间承

受全部试验电压。参考接线方式：

1正接线、内标准电容、内高压（常规正接线）

高压屏荊高压芯线

咼压Cx

CK屏蔽广^屏醱环

Cx