卫星用SRAM型FPGA抗单粒子翻转可靠性设计研究.pdf

技创新与应用

众创空间TechnologyInnovationandApplication20219期

卫星用SRAM型FPGA抗单粒子翻转可靠性设计研究

严健生，杨柳青

，

中国科学院微小卫星创新研究院上海201203）

摘要：随着SRAM型FPGA在航天领域的大规模应用，空间辐照影响特别是单粒子效应已经成为SRAM型FPGA的主

，，

要影响。为了满足SRAM型FPGA的航天应用文章提出了提高SRAM型FPGA在空间辐照环境的可性分析介绍了抗单粒

，。

子翻转的硬件方法和软件方法。并对各种方法进行了分析和比较为SRAM型FPGA在航天领域的可性应用提高保障

关键词：SRAM型FPGA；单粒子翻转；可性设计

中图分类号V419文献标志码A文章编号2095-2945渊2021冤09-0048-04

Abstract:WiththecontinuousapplicationofSRAM-FPGAinaerospacefield,theinfluenceofspaceirradiation,especially

theeffectofsingleparticleeffectonSRAM-FPGA,isparticularlysignificant.ToimprovethereliabilityofSRAM-FPGAin

spaceirradiationenvironment,thehardwareandsoftwaremethodstoresistsingleeventupsetareintroduced.Themethodsare

comparedandanalyzedtoimprovethereliabilityofSRAM-FPGAinaerospacefield.

Keywords:SRAM-FPGA;singleeventupset(SEU);reliabilitydesign

1概述次/天·位表示。整机设计时选用SEU率低的器件非常重

），。

宇宙高能粒子太阳宇宙线或银河宇宙线射入半导要，如果SEU率非常高其它的措施都将不起作用

，

体器件SRAM单元灵敏区时可使器件逻辑状态翻转导2.2整体屏蔽减少辐射效应

致系统功能紊乱。这种单粒子翻转SEU）造成的逻辑错整体屏蔽办法就是在卫星电子设备外面包覆一层具

，。，、铅、钽和

误不是永久性的一般不会造成器件的物理性损伤SEU有一定厚度的屏蔽材料通常采用的材料有铝

已经成为卫星电子设备的常见错误。，

某些酯类化合物等此法可以有效地缓解卫星电子设备

。，

目前大多数FPGA基于SRAM结构SRAM型FPGA