【英语版】国际标准 ISO 29301:2017 EN Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures 显微光束分析分析电子显微镜利用具有周期性结构的参考材料校准图像放大率的方法.pdf

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| 2017-12-06 颁布

【英语版】国际标准 ISO 29301:2017 EN Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures 显微光束分析分析电子显微镜利用具有周期性结构的参考材料校准图像放大率的方法.pdf

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ISO29301:2017标准详细说明了用于在电分析电子显微镜中校正图像放大率的方法，它包括使用具有周期性结构的参考材料。在电分析电子显微镜中，观察到的电子图像的放大率需要进行校准，以便得到准确的图像细节。ISO29301:2017方法提供了一种基于周期性结构参考材料的校准过程，详细描述了如何选择和准备这些参考材料，以及如何在实际操作中应用这些材料来校准图像放大率。这种方法可以提供更高的精度和可靠性，特别是在需要高分辨率和精确分析的微束分析中。这种方法对于科学家、研究人员和工程师在进行纳米尺度材料研究和开发过程中非常重要。