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OAM光自旋霍尔效应的测量
摘要
光子自旋霍尔效应是指当一束线偏振光入射两种介质的分界面，在光束发生折射和反射的同时，光子发生漂移，使线偏振光分裂成左旋圆偏光和右旋圆偏光并分别偏向入射光束传输方向截面的两侧。通常，光束发生折射和反射产生光子自旋霍尔效应的同时伴随着古斯-汉森效应和伊伯特-菲德罗夫效应的发生，对这两种效应的测量可以实现对光子自旋霍尔效应的间接测量。光子自旋霍尔效应产生的自旋位移值非常的小，一般在数十纳米之内，用传统的测量方法难以做到有效而精确的测量。弱测量技术的出现给这个问题提出一种解决方案。弱测量技术是一种对弱耦合现象进行有效测量的重要技术，通过前选择态和后选择态的共同
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