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2025-01-28 发布于河南
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IC半导体来料性能检验规范.pdf

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IC半导体来料性能检验规范--第1页

ISO37301/ISO14001/ISO45001/ISO22000文件范例

文件名称：IC半导体来料性能检验规范生效日期：2023-10-11

文件编号：页数1/5生效版本：A0

文件制修订记录

NO制/修订日期修订编号制/修订内容版本页次

12023-10-11-新制订A0

核准审核制订

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IC半导体来料性能检验规范--第2页

ISO37301/ISO14001/ISO45001/ISO22000文件范例

文件名称：IC半导体来料性能检验规范生效日期：2023-10-11

文件编号：页数2/5生效版本：A0

1.目的

本规范是我司在特殊条件下检验IC类和功率器件类来料性能的基础规范，规范特定的抽检条件和抽

检内容。

2.适用范围

本规范适用我司IC器件和半导体分立元件，物料族包括如下：

1201晶体振荡器

12类（晶振）

1202晶体谐振器

35类（现场可编程阵列）3503FPGA

3601TTL

36类（数字逻辑器件）

3602CMOS

37类（数字信号处理器件）3702DSP

3801A/D转换器

3802模拟开关/多工器

3804D/A转换器

3806显示驱动器

38类（接口电路）3808键盘编码译码器

3809接口收发器

3811三极管阵列

3812接口扩展器

3813无线收发器

3903电压比较器

3908运算放大器（包含3906、3907)

3910光耦合器件（包含1103）

3911A电压调整器

3911B电压驱动器

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