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集成电路设计中的故障检测与故障定位考核试卷

考生姓名：答题日期：得分：判卷人：

本次考核旨在评估考生在集成电路设计中对故障检测与故障定位的理解和掌握程度，考察考生对相关理论、方法及实践应用的能力。

一、单项选择题（本题共30小题，每小题0.5分，共15分，在每小题给出的四个选项中，只有一项是符合题目要求的）

1.故障检测中，以下哪种方法不依赖于电路的结构信息？

A.逻辑测试

B.内部扫描测试

C.线性测试

D.功能测试

2.以下哪种故障模型是用来描述电路中元件的故障类型？

A.时序故障模型

B.逻辑故障模型

C.电压故障模型

D.温度故障模型

3.在故障定位中，以下哪个步骤不是常用的？

A.故障现象分析

B.故障模式识别

C.故障源定位

D.故障修复

4.以下哪种测试技术主要用于检测静态时序故障？

A.ATPG

B.ATPS

C.STP

D.FPG

5.以下哪种故障检测方法是通过比较实际输出与预期输出来实现的？

A.假设检查

B.恢复测试

C.时间戳分析

D.逻辑覆盖

6.在集成电路设计中，以下哪种故障可能导致系统性能下降？

A.逻辑冗余故障

B.元件退化故障

C.电压波动故障

D.热效应故障

7.以下哪种故障检测技术不需要额外的测试硬件？

A.ATPG

B.ATPS

C.STP

D.硬件在环测试

8.以下哪种故障检测方法通常需要大量的测试向量？

A.假设检查

B.恢复测试

C.时间戳分析

D.逻辑覆盖

9.在集成电路设计中，以下哪种故障可能导致系统崩溃？

A.逻辑冗余故障

B.元件退化故障

C.电压波动故障

D.热效应故障

10.以下哪种测试方法适用于检测时序故障？

A.逻辑测试

B.内部扫描测试

C.线性测试

D.功能测试

11.在故障检测中，以下哪种方法可以减少测试向量数量？

A.ATPG

B.ATPS

C.STP

D.硬件在环测试

12.以下哪种故障检测技术主要用于检测组合逻辑故障？

A.假设检查

B.恢复测试

C.时间戳分析

D.逻辑覆盖

13.在集成电路设计中，以下哪种故障可能导致数据错误？

A.逻辑冗余故障

B.元件退化故障

C.电压波动故障

D.热效应故障

14.以下哪种故障检测方法通常需要模拟环境？

A.ATPG

B.ATPS

C.STP

D.硬件在环测试

15.在故障定位中，以下哪个步骤不是关键的？

A.故障现象分析

B.故障模式识别

C.故障源定位

D.故障修复

16.以下哪种故障检测技术主要用于检测静态时序故障？

A.ATPG

B.ATPS

C.STP

D.FPG

17.在集成电路设计中，以下哪种故障可能导致系统不稳定？

A.逻辑冗余故障

B.元件退化故障

C.电压波动故障

D.热效应故障

18.以下哪种故障检测方法不需要额外的测试硬件？

A.ATPG

B.ATPS

C.STP

D.硬件在环测试

19.在故障检测中，以下哪种方法可以减少测试向量数量？

A.ATPG

B.ATPS

C.STP

D.硬件在环测试

20.在集成电路设计中，以下哪种故障可能导致数据丢失？

A.逻辑冗余故障

B.元件退化故障

C.电压波动故障

D.热效应故障

21.在故障检测中，以下哪种方法可以检测到时序故障？

A.假设检查

B.恢复测试

C.时间戳分析

D.逻辑覆盖

22.以下哪种故障检测技术主要用于检测组合逻辑故障？

A.假设检查

B.恢复测试

C.时间戳分析

D.逻辑覆盖

23.在集成电路设计中，以下哪种故障可能导致系统响应时间变长？

A.逻辑冗余故障

B.元件退化故障

C.电压波动故障

D.热效应故障

24.以下哪种故障检测方法通常需要模拟环境？

A.ATPG

B.ATPS

C.STP

D.硬件在环测试

25.在故障定位中，以下哪个步骤不是关键的？

A.故障现象分析

B.故障模式识别

C.故障源定位

D.故障修复

26.以下哪种故障检测技术主要用于检测静态时序故障？

A.ATPG

B.ATPS

C.STP

D.FPG

27.在集成电路设计中，以下哪种故障可能导致系统崩溃？

A.逻辑冗余故障

B.元件退化故障

C.电压波动故障

D.热效应故障

28.以下哪种故障检测方法不需要额外的测试硬件？

A.ATPG

B.ATPS

C.STP

D.硬件在环测试

29.在故障检测中，以下哪种方法可以减少测试向量数量？

A.ATPG

B.ATPS

C.STP

D.硬件在环测试

30.在集成电路设计中，以下