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;;§1显微分析概论;1.形貌分析的显微术;显微学研究的尺度;显微镜种类;2.光学显微镜;光学显微镜的发展历程;;;1924年,德国物理学家德布罗意(DeBroglie)提出,运动的实物粒子都具有波动性质,后来被电子衍射实验所证实。运动电子具有波动性使人们想到可以用电子束作为电子显微镜的光源。
1926年布施(Busch)提出用轴对称的电场和磁场聚焦电子线。
在这两个理论基础上,1931~1933年鲁斯卡(Ruska)等设计并制造了世界第一台透射电子显微镜。(点分辨率50nm,比光学显微镜高4倍),Ruska为此获得了NobelPrize(1986)。
1949年Heidenreich将TEM用于材料科学,观察了用电解减薄的铝试样。
用于组织形貌分析的扫描电子显微镜(SEM)?是在1952年由英国工程师CharlesOatley发明的。;透射电镜;扫描电镜;;碳纳米管;;18;;;4.扫描探针显微镜;扫描隧道显微镜图像;;;三位诺贝尔物理学奖获得者;SCIENCEASART;;;2010,8thPrize-Mr.HonorioCocera-LaParra
Specimen:Cacoxenite(18x)
Technique:TransmitedLight;;/science-as-art/;;;;2ndPlaceWinner
DavidGracias,JohnsHokinsUniversity
BadPitch
SEMimageofmicrobeadslyingoutsideaself-assembled500micronsizedbox.
;;ScienceAsArtCompetition------2011MRSFallMeeting;
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