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最近看到坛子里不少TX都有这样的疑问,更有不少TX对吸脱附支的选择有不少误解,忍
不住想说上几句了。
呵呵,这里只说介孔部分,也就是相对压力在0.05~1这一段采集的等温线的分析,而且咱
只说结论不说中间的理论啊,要不太长了我打不过来
首先大家要明确的是,物理吸附对孔分布的计算应该叫做分析方法,而不是表征手段。这中
间的区别就在于,表征手段比如讲红外,不同的共价键振动对应特征的波数;而分析方法,
则更多的是一种“农村包围城市”的逼近方法,也就是不同分析方法相互佐证。具体到孔径分
布的分析,它就要求你对自己测试的材料的孔型(柱状、狭缝、墨水瓶、无定形)至少
有个大概的概念,要么是合成路线就已经可以决定孔型,要么是通过电镜等方法对局部有所
了解。
也正是由于被分析的材料的复杂性,就造成了孔分布计算中不可能有一刀切的答案。所以,
各位TX,其实咱们上面说”选择吸附支vs脱附支“其实就是个伪命题。
好了,在这个基础上,我们就可以开始具体分析等温线了。
1,根据IUPAC的定义,等温线迟滞环分四型(见附图)。这四种不同形状的迟滞环代表着
不同的孔结构,这个嘛,IUPAC说的很清楚,我就不废话了。其中H3和H4型都是对应无
定形孔,在孔分析中基本可以归为一类。
2,对于H1型迟滞环,也就是吸脱附线比较平行的这种情况,通常有两类孔结构可以产生
这样的迟滞环。对于独立柱状孔结构的材料来说,使用吸附支或脱附支计算得到的结果是一
致的!
但是,还有一类柱状的三维孔结构也能够产生这样的迟滞环。这时,吸脱附支计算的结果是
不一致的。应该使用脱附支而不是吸附支!
3,对于H2型迟滞环,应该说是最麻烦的一类。因为这类的迟滞环一般归属为墨水瓶状孔
和一些三维孔结构。由于吸脱附机理上的细小差别,通常讲吸、脱附可以表征孔结构的不同
部分。具体到墨水瓶孔,通过吸附支可以得到“瓶肚子”的信息,而脱附支可以得到“瓶颈”
的信息。因此分析吸脱附两支都是必要的。
但是,对于H2型迟滞环的脱附支的分析还有一个临界值的限制。也就是说这个“瓶颈不能
是无限小的,对于不同的实验体系(N2@77K,Ar@87K,Ar@77K等等)这个临界值是
不同的。以大家最常用的N2@77K为例,这个临界值大概是在相对压力0.4~0.5,孔径5nm
左右。当”瓶颈“小于这个临界值后,脱附支的分析会给出一个假峰,就没有意义了!
4,对于H3,H4型的迟滞环,对应的是不同的无定形孔。这类孔结构的挑战是由于孔分布非
常宽,很容易出现上面讲的临界情况,因此在不清楚材料确切的孔分布的情况下,反倒是吸
附支得到的数据更可靠些。
最后,有的TX可能要问了,如果没有条件作其它测试,又对孔结构不是很了解,那该怎么
办呢?
呵呵,告诉大家一个简单的办法。再做一个实验!由于吸附质的性质不同,因此,如果两个
使用不同吸附质得到的等温线计算出的孔径是一致的,那么基本就可以确信孔径的真实性了
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