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模型批准测试者检查作者期ht05-050 mtbf 230vac.pdfVIP

模型批准测试者检查作者期ht05-050 mtbf 230vac.pdf

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MTBFREPORT

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TESTEDBY:Richard-KuoCHECKBY:

DOCUMENT:DATE:1/20/2005

ReferenceDOC.:BELLCOREMETHODI,CASE3RELIABLITYPREDICTION

TECHNICALREFERENCE:TR-NWT-000332

TestCondition:TEMPERATURE:25℃

RATEDVOLTAGE:230VacFREQUENCY:50HZ

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Result:OK

TOTALFAILURERATE4511

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FAILURERATEMOSFET

ITEM1:MICROELECTRONICDEVICEITEM2:FAILURERATE

mm

λ=πΣNi*λλ=πΣNi*λ

SSSSiSSSSi

i=1i=1

=350.762=72.46

ITEM3:TRANSISTORSFAILURERATEITEM4:DIODESFAILURERATE

mm

λ=πΣNi*λλ=πΣNi*λ

SSSSiSSSSi

i=1i=1

=18.0332=348.8

ITEM5:ZENERSFAILURERATE

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