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基于人工智能的集成电路测试覆盖率优化论文

摘要：

随着人工智能技术的飞速发展，其在集成电路测试领域的应用日益广泛。本文旨在探讨如何利用人工智能技术优化集成电路测试覆盖率，以提高测试效率和产品质量。通过对现有测试方法的不足进行分析，提出基于人工智能的集成电路测试覆盖率优化策略，并对未来研究方向进行展望。

关键词：人工智能；集成电路测试；覆盖率优化；测试效率；产品质量

一、引言

（一）人工智能在集成电路测试中的应用优势

1.内容一：提高测试效率

1.1人工智能能够快速处理大量数据，实现对集成电路的全面测试，从而缩短测试周期。

1.2通过机器学习算法，人工智能可以自动识别测试中的异常，提高测试

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