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GB/ZXXXXX—XXXX/ISO/TR19693：2018

附录A

（资料性）

预清洁市售玻片的研究

所有市售玻片的制造商或供应商均提供用于生物传感或微阵列应用的（预）清洁玻片。但除在网站

上公布的一些数据外，很少有人知道具体采用哪种清洁方案，或者在清洁之后达到哪些规范要求（例如，

WCA、碳污染）。通过进行XPS和ToF-SIMS等表面化学分析，可以获得关于这些玻片的元素组成以及有机

表面污染物化学性质的信息，而与相关化合物的光谱库、标准操作程序（SOP）和/或主成分分析（PCA）

结合使用时，该流程可实现自动化。此外，常规的水接触角（WCA）测量也有用，但其应以XPS和SIMS

数据为基础。

在BAM进行的一项研究旨在研究碳污染的性质以及制造商已清洁市售玻片的清洁度，结果显示表面

污染的类型和数量存在显著差异。在研究过程中，研究者通过XPS和ToF-SIMS分析来自不同供应商的两

件未清洁玻片（1-2）和九件已清洁玻片（3-11）。

首先测量XPS测量光谱，以获得所研究玻片表面层中的元素组成信息。这些结果已在表A.1中总结，

这也证明XPS具有区分不同玻璃基底的能力[48、49]。除硅和氧等主要玻璃成分外，在钠钙硅酸盐玻璃

中还发现大量的钠、镁和钙，而硼则是硼硅酸盐玻璃的主要成分。样品2和11由浮法玻璃制成；这些玻

片在一侧显示出Sn特征峰（见表A.1）。

此外还测试了名义上与样品6相同但实际来自三个不同批次（样品6-1、6-2和6-3）的玻片的批次间

差异。子研究发现碳的平均表面含量为（2.5±0.4）at%。发现表面C和O原子分数测量的最高标准不确

定度为±0.8at%。这只是峰强度测量中的统计不确定度。关于不确定度，还有其他未阐明的来源，例如

将计入测量综合不确定度的系统误差。

研究者发现，表明不同清洁度水平的表面碳含量是所分析玻片相关度最高的差异。该研究揭示了用

碳表面原子分数[C]表示的碳质污染物，其含量约为2at%-10at%（见表A.1）。不同供应商提供的“清洁”

钠钙硅酸盐玻片展示了碳表面原子分数的广泛分布。玻片3、8和9的[C]非常接近，约为5at%，但在玻片

4、10和11上检测到数值则要高得多，三者的[C]均大于8at%。

比较来自同一供应商的未清洁（1-2）和已清洁（5-7）硼硅酸盐玻片，发现清洁后碳表面原子总分

数[C]减少50%以上（见表A.1）。由此证实供应商特定清洁方案的效率（使用具有不同pH值的多个清洁

步骤、冲洗步骤和最终干燥阶段的自动超声波清洁线）。文献中报告的其他已清洁钠钙玻璃和硼浮法玻

璃的碳表面总原子分数较为接近，其数值均在2at%-4at%之间[48]。

表A.1通过XPS、有机碳污染厚度（dorg.C）和测得的分析玻片水接触角（WCA）来衡量的表面元素ba

组成

样品IDO（at%）Si（at%）C（at%）Na（at%）B（at%）Ca（at%）Mg（at%）Sn（at%）dorg.CWCA（°）a

（nm）b

未清洁玻片

164.8±0.824.7±0.45.7±0.80.4±0.13.1±0.4—c—c—c0.246.4±2.0

262.5±0.823.3±0.27.3±0.90.5±0.02.8±0.3—c—c1.3±0.10.349.0±2.5

已清洁玻片

363.2±1.123.4±0.35.3±1.44.8±0.2—c1.4±0.01.1±0.1—c0.217.8±2.1

460.7±1.122.9±0.38.6±1.44.4±0.2—c1.3±0.01.2±0.1—c0.4d

565.8±0.926.5±0.22.4±0.80.3±0.13.6±0.3—c—c—c