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数字电路自动测试生成系统中优化技术的深度剖析与实践应用

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代电子系统中，数字电路扮演着至关重要的角色，广泛应用于通信、计算机、航空航天、工业控制等众多领域。随着科技的飞速发展，数字电路的规模和复杂性呈指数级增长，这对数字电路的测试技术提出了前所未有的挑战。传统的手工测试方法在面对大规模、高复杂度的数字电路时，不仅效率低下、准确性难以保证，而且耗费大量的人力、物力和时间成本，已经无法满足现代数字电路设计和生产的需求。

自动测试生成（ATPG，AutomaticTestPatternGeneration）系统应运而生，它能够根据数字电路的结构和功能，自动生