电路结构视角下扫描链诊断技术的深度剖析与创新应用.docx

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2025-04-23 发布于上海
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电路结构视角下扫描链诊断技术的深度剖析与创新应用

一、引言

1.1研究背景与意义

在当今数字化时代，集成电路作为现代电子设备的核心组成部分，广泛应用于计算机、通信、消费电子等众多领域，其性能和可靠性直接影响着整个电子系统的运行。随着集成电路技术的飞速发展，芯片的集成度不断提高，功能日益复杂，这也使得芯片制造过程中出现故障的概率大幅增加。扫描链作为集成电路可测性设计的重要组成部分，在芯片故障诊断中发挥着关键作用。

扫描链设计是一种广泛采用的可测性设计方法，通过将芯片中的寄存器连接成链状结构，使得在测试过程中能够方便地对寄存器进行加载和卸载操作，从而实现对芯片内部逻辑状态的观测和控制。在采用扫描