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半导体器件测试系统中的校准策略分析.pdfVIP

半导体器件测试系统中的校准策略分析.pdf

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    工艺与制造ProcessandFabrication

    半导体器件测试系统中的校准策略分析

    周智芳

    （贵州省机械电子产品质量检验检测院，贵州550014）

    摘要：阐述电子器件测试中的准确度与稳定性、高效性与自动化的问题及原因。针对测试准确度与稳定

    性问题，提出仪器校准和标定策略优化、噪声抑制和信号增强方法引入的解决措施。针对高效性与自动

    化问题，提出并行测试技术应用、自动化脚本编写和远程控制策略优化的解决措施。

    关键词：集成电路，电子器件，测试技术，测试准确度。

    中图分类号：TN407文章编号：1674-2583(2024)03-0060-02

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