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X射线晶体学
复习与考试
考试地点:逸703
考试内容与形式
闭卷考试
考试地点:逸703
名词解释(25%)
填空题(15%)
问答题(20%)
Jade操作方法(20%)
应用题(20%)
衍射谱计算或结果分析、实验方案设计
1.X射线物理学
X射线的本质:波粒二象性
E=hγ=hc/λ,P=h/λ
X射线的产生
发光机制,标识谱,连续谱
短波极限λ0=1.24/U,X光管最佳工作电压
I特征=Ai(U-UK)n,I连续谱=aiZU2
X射线与物质相互作用
散射和真吸收,相干散射和非相干散射
康普顿散射,真吸收,线吸收系数I=I0exp(-μlt)
质量吸收系数μm=μl/ρ,μm=Kλ3Z3
吸收极限
2.X射线衍射几何理论
晶体几何学
空间点阵,点阵参数,周期性和对称性
倒易点阵:定义与构建,倒易矢量性质(方向、长度)
7大晶系,14种布拉菲点阵类型,230空间点群
晶向指数、晶面指数、晶面间距与计算公式
晶面夹角计算公式、晶带与晶带定律
X射线衍射几何学
劳厄定律及矢量形式,布拉格定律,衍射矢量方程
和爱瓦尔德作图法,反射球,作图法解释衍射问题
干涉函数G性质,光程差计算
3.X射线衍射强度理论
单个电子对X光的散射
一个原子对X光的散射:原子散射因子
一个晶胞对X光的散射:结构因子F
结构因子的计算,消光现象,常见晶体结构消光规律
一个小晶体对X光的散射
粉末多晶体的衍射强度
强度计算公式,重复因子,德拜因子
立方系的消光规律,立方系衍射强度计算
4.X射线衍射仪及操作
1.X射线衍射仪的构成
1.1X射线发生器:
X光管结构,阈值电压,工作电压,Kαl,Kα2,Kβ
线光源,点光源,额定功率,额定电压
1.2测角仪
狭缝系统,样品台,滤波片,单色器的种类与作用
1.3X射线强度测量记录系统
计数器的分类与指标,闪烁管,正比管,GM管
计算率与死时间,
3.多晶衍射样品的制备方法
粉末样品制样,
粉末样品的固定:正压法、背压法、侧装法、撒样法
4.测量方式和实验参数的选择
X光管选靶,扫描参数,θ-2θ扫描、掠入射扫描
连续扫描、步进扫描、步长,计时,
4.Jade软件使用
Jade的功能
用户界面和基本操作
全谱窗口和缩放窗口、菜单栏、主工具栏和编辑工具栏
程序设置
PDF数据库检索导入(ICDD-PDF,ICSD)
数据文件格式和读入
平滑与寻峰
拟峰(自动、手动)
多谱操作
PDF检索
5.物相定性分析
物相的含义
物相检索原理(D-I列表与晶体结构)
ICDD-PDF卡片(各项内容)
PDF卡片的检索与匹配(步骤与判据)
物相定性分析的实验方法
图谱扫描,成分限定,子库选择,强峰检索
物相定性分析应用
粉末法X射线衍射物相分析的局限性
7.物相定量分析
定量相分析的原理
K值法定量(方法,适用范围)
绝热法定量(方法,适用范围)
定量分析方法(Jade操作,PDF卡选取)
各种情况下的分析步骤
择优取向,单峰计算,全谱计算,非晶相分析
传统定量分析的优点与缺点
8.结晶度计算
结晶度的概念
结晶的完全性,结晶的完整性
结晶度的测量方法
绝对结晶度的测量:纯样法、差异法
相对结晶度的测量
结晶度计算应用
9.晶体结构解析点阵参数测量
晶体结构识别方法
各晶系衍射谱的特点,Jade结构解析方法
衍射仪测量点阵常数的误差来源
零点误差,2θ/θ驱动匹配误差,样品误差
内标法校正仪器误差
外标法校正仪器误差
精确计算点阵常数Jade操作步骤
合金相分析方法,未知相的分析,
10晶粒大小及微观应变的计算
材料微结构与衍射峰形的关系
峰形函数,半高宽公式,晶粒度与微应变的影响
计算微晶尺寸与微观应变的方法
标准曲线的标定,内标法与外标法步骤
Jade操作(参数设置与计算步骤,报告输出)
11.残余应力测量
残余应力概念
对衍射谱的影响
残余应力的测量原理
测量原理,sin2ψ法
实验方法与数据处理
同倾法与侧倾法,Jade操作步骤
12.Rietveld全谱拟合精修
Rietveld结构精修原理
Jade全谱拟合精修步骤
物相的添加
结构相与非结构相,PDF检索,CIF文件,结构数据库,
全局变量精修
背景,非晶峰,样品与仪器较正(Z0,SD,MC)
物相参数精修
峰形函数和峰形参数精修,半高宽精修,半高宽,独立强度(I%)
择优取向(O1,O2),晶格常数
12.Rietveld全谱拟合精修
物相原子参数精修
原子坐标,取向与占有数
精修控制
精修策略(stage),控制选项
精修显示与结果输出
精修报告(.rrp),打印报告,输出选项
全谱拟合精修应用
多相精修,择优取向,非晶,内标法
13.纳米材料的X射线分析
结晶纳米材料的相分析
注意与常规粉末样品的区别
非晶
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