氟化锂在硅基底上肖特基接触形成的界面电子学机制与特性研究.docx

氟化锂在硅基底上肖特基接触形成的界面电子学机制与特性研究.docx

  1. 1、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。。
  2. 2、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
  3. 3、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多

氟化锂在硅基底上肖特基接触形成的界面电子学机制与特性研究

一、引言

1.1研究背景与意义

在半导体器件的发展历程中,肖特基接触扮演着举足轻重的角色。肖特基接触是指金属与半导体之间的一种特殊接触形式,其特性对于半导体器件的电学性能和稳定性有着决定性的影响。在各类半导体器件,如二极管、场效应晶体管以及光电二极管等中,肖特基接触都被广泛应用。以肖特基二极管为例,它利用了肖特基接触的整流特性,具有极短的反向恢复时间和较低的正向电压降,这使得它在高频电路和开关电源等领域中发挥着关键作用;在场效应晶体管中,肖特基接触作为源极和漏极与半导体沟道的连接方式,其接触电阻和势垒高度直接影响着晶体管的导通性能和

您可能关注的文档

文档评论(0)

chilejiupang + 关注
实名认证
内容提供者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档