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ICS
CCS
T/WXIOT
无锡市物联网产业协会团体标准
T/WXIOTXXX-2025
色选用近红外InGaAs焦平面探测器
参数测试方法
TestMethodforColorSorterofNear-infraredInGaAsFocalPaneDetectors
征求意见稿
在提交反馈意见时，请将您知道的相关专利连同支持性文件一并附上。
已授权的专利证明材料为专利证书复印件或扉页，已公开但尚未授权的专利申
请证明材料为专利公开通知书复印件或扉页，未公开的专利申请的证明材料为专
利申请号和申请日期。
2025-XX-XX发布2025-XX-XX实施
无锡市物联网产业协会发布
T/WXIOTXXX-2025
目次
前 言II
1范围1
2规范性引用文件1
3术语和定义1
4符号和单位2
5测试方法3
5.1相对光谱响应、光谱因子3
5.2像元黑体探测率、平均黑体探测率、响应率、响应率不均匀性、盲元率、行差5
5.3MTF测试9
5.4杂光比测试11
附录A（资料性附录）《色选用近红外InGaAs焦平面探测器参数测试报告》模板
13
I
T/WXIOTXXX-2025
前 言
本文件按照GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规
则》的规定起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由无锡市物联网产业协会提出并归口。
本文件起草单位：无锡中科德芯感知科技有限公司、无锡市物联网产业协会、中科院上
海技术物理研究所、上海济物光电技术有限公司、无锡迅杰光远科技有限公司、无锡菲谱光电
技术有限公司、江苏理工学院、江苏信息职业技术学院
本文件主要起草人：王博、兰树明、宋家琪、吴卫华、朱爱玺、季云峰
II
色选用近红外InGaAs焦平面探测器参数测试方法
1范围
本文件给出了色选用近红外InGaAs焦平面探测器的参数，包括相对光谱响应、光谱因子、像元黑体
探测率、平均黑体探测率、响应率、响应率不均匀性、盲元率、行差、噪声电压及相应的测试方法。
本文件适用于线列、面阵色选用近红外InGaAs焦平面探测器。
2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，
仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本
文件。
GB/T17444—2013红外焦平面阵列参数测试方法
3术语和定义
GB/T17444确立的以及下列术语和定义适用于本标准。
3.1
近红外nearinfra
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