（高清版）DB13∕T 5696-2023 基于高温反偏试验的GaN HEM∕T射频功率器件缺陷快速筛选方法.pdfVIP

ICS31.080

CCSL40

13

河北省地方标准

DB13/T5696—2023

基于高温反偏试验的GaNHEMT射频功率器

件缺陷快速筛选方法

2023-05-06发布2023-06-06实施

河北省市场监督管理局发布

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DB13/T5696—2023

目次

前言II

引言III

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

4文字符号1

5筛选原理2

6筛选条件2

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7筛选系统构成和要求2

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8筛选方法2

9判据5

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10试验报告5

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附录A（资料性）电压控制及电流采集模块电路6

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参考文献7

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I

DB13/T5696—2023

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的

规定起草。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。

本文件由石家庄市市场监督管理局提出。

本文件起草单位：河北博威集成电路有限公司。

本文件主要起草人：郭跃伟、王鹏、张博、王静辉、闫志峰、郝永利、王景亮、刘子浩。

本文件为首次发布。