新解读《GB_T 39771.2-2021半导体发光二极管光辐射安全 第2部分：测试方法》最新解读.pptxVIP

《GB/T39771.2-2021半导体发光二极管光辐射安全第

2部分：测试方法》最新解读

一、标准核心框架剖析：筑牢光辐射安全基石

（一）总体架构总览：搭建测试体系“四梁八柱”

GB/T39771.2-2021为半导体发光二极管（LED）光辐射安全测试搭建起完整体系。从测试环境、设备要求，

到具体危害类型的测试方法，环环相扣。它与第1部分要求与等级分类方法紧密配合，前者侧重指标设定，后

者聚焦如何精准测试验证，共同为LED光辐射安全把关。

（二）适用范围界定：明确LED“安全版图”

该标准适用于光辐射波长处于近紫外和可见光区域

（300nm-780nm）的单芯片或多芯片LED。无论是日常照明灯具中的LED灯珠，还是电子设备显示屏背光源;

的LED，只要在此波长区间，都受此标准约束。这一范

围划定，契合当前LED在照明、显示等主流应用场景的光谱特性，确保标准落地的针对性与实用性。

二、测试前期筹备：细节决定测试成败

（一）测试环境营造：打造“纯净”测试空间

1.暗室环境营造：测试需在暗室进行，照度小于0.5lx，环境表面反射比小于10%，且杜绝电脑显示屏、指示灯等其他辐射源。暗室就像为测试打造的“无菌舱”，排除外界杂散光干扰，让测试数据精准反映LED自身光辐射特性。例如，若暗室照度不达标，外界光线混入，会使测试的LED光谱辐照度数据虚高，导致对其光辐射安全评估出现偏差。;

2.光阑设置作用：在被测LED和探测器间设置光阑，

可消除环境表面反射杂散光。光阑如同“精密滤网”，只允许LED直射光进入探测器，进一步净化测试光路，保障数据可靠性。

（二）供电与预热把控：让LED“稳定发挥”

1.供电精准要求：LED应工作在产品规定的电流或电压下，偏差不大于±0.2%。稳定精准的供电是LED稳定发光的基础，若供电不稳定，LED发光强度、光谱等会大幅波动，使测试数据失去参考价值。比如，供电电压过高，LED可能超功率发光，光辐射危害测试结果必然失真。

2.预热时间规范：从施加电源到发光稳定，预热时间至少15min，稳定状态以每分钟测试一次，连续5???最;

大光输出变化不大于0.5%为准。预热让LED内部芯片

达到热平衡，发光趋于稳定，此时测试数据才真实反映其正常工作状态下的光辐射特性。

三、关键测试指标详解：洞察光辐射安全本质

（一）辐照度测试：衡量光能量“剂量”

1.测试装置原理：通常采用在圆锥角内接受光辐射的装置，圆锥角中轴线垂直于探测器平面，探测器在规定视场内具余弦角度响应，确保全方位均匀接收光辐射。

被测LED需达最大光辐射状态，这样测到的辐照度才是其“峰值能量剂量”。

2.测试步骤拆解：先按产品规定条件安装并供电，接着精细调整仪器测试视场、距离、入射孔径等参数，随后测试300nm-700nm光谱辐照度，最后严谨处理数据;

并生成报告。每一步都如精密仪器调试，任何环节失误

都会影响最终辐照度数据准确性。

3.紫外与蓝光危害辐照度计算：对于300nm-400nm发射光的LED，眼睛和皮肤紫外危害辐照度有对应计算公式；在300nm-700nm范围，视网膜蓝光危害-小光源辐照度也有专门算法。这些公式依据光生物危害作用光谱函数，将原始辐照度数据转化为衡量特定危害的量化指标。

（二）辐亮度测试：聚焦光强“集中度”

1.测试装置特性：通过光学镜头将LED光辐射成像到探测面上，探测器在测试视场中有均匀响应，且被测

LED要达最大辐射亮度状态。该装置能精准捕捉LED;

特定区域的光强集中程度，为评估无晶状体视网膜紫外

危害、视网膜蓝光危害提供关键数据。

2.测试流程解析：同样先安装、供电，再调整仪器参数，最后测试300nm-700nm光谱辐亮度。测试过程中，要借助成像仪等辅助装置，确保探测系统接收到LED最大辐射亮度，获取最具代表性的辐亮度数据。

3.危害类型辐亮度计算：在300nm-700nm发射光

的LED，无晶状体视网膜紫外危害辐亮度、视网膜蓝光危害辐亮度，分别由光谱辐亮度与对应危害作用光谱加权函数积分得出。这一计算方式将LED复杂光谱与特定危害紧密关联，精准量化危害程度。

四、测试视场与孔径奥秘：精准限定测试范围

（一）测试视场确定：匹配危险等级“视野”;

1.视场角与危害关联：对于300nm-780nm光辐射，

眼睛和皮肤、视网膜等受辐射