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软件与算法SoftwareandAlgorithms

MLC型NAN闪存的比特翻转译码算法研究

张旋，李晓强

(西安理工大学，陕西西安7100)2)

摘要：随着闪存编程/擦除循环次数的增加，多级单元（Multi-LealCell，MLC)的氧化隔离层被破坏，进而导致闪存的可靠性

急剧降低。针对这种情况，在深入分析MLC闪存信道模型和数据保持噪声模型的基础上，提出了一种MLC型NAND闪存的比

特翻转译码算法。仿真结果表明，在MLC闪存信道下，该方法既可保证闪存单元的可靠性，又具有较短闪存单元的读取时间，

从而实现了译码复杂度和性能间的良好折衷。

关键词：多级单元；低密度奇偶校验码；比特翻转译码算法

中图分类号：TP393.0文献标识码：AD0I:10.19358/j.issn.1674-7720.2017.19.008

引用格式：张旋，李晓强.M