《半导体磁阻元件》.pdf

ICS31.080.99

CCSL40/49

ZOIA

中关村光电产业协会团体标准

T/XXXXXXX—XXXX

半导体磁阻元件

SemiconductorMagnetoResistive(SMR)Element

（征求意见稿）

1

在提交反馈意见时，请将您知道的相关专利连同支持性文件一并附上。

XXXX-XX-XX发布XXXX-XX-XX实施

中关村光电产业协会  发布

T/XXXXXXX—XXXX

半导体磁阻元件

1范围

本标准规定了半导体磁阻元件（以下简称“SMR”）术语和定义、技术要求、试验方法、检验规

则、标志包装运输和贮存。

本标准适用于半导体磁阻元件的验收、检测及性能实验。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，

仅该日期对应的版本适用于本文件。不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本

文件。

GB/T2423.1电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温

GB/T2423.2电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温

GB/T2423.22环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化

IEC61760-2SurfaceMountingTechnology-Part2:TransportationandStorageConditionsofSurface

MountingDevices(SMD)-ApplicationGuide

J-STD-020JOINTIPC/JEDECStandardMoisture/ReflowSensitivityClassificationforNon-hermetic

SurfaceMountDevices(SMDs)

JESD22-A101Steady-StateTemperature-HumidityBiasLifeTest

JESD22-A102DAcceleratedMoistureResistance–UnbiasedAutoclave

JESD22-A103HighTemperatureStorageLife

JESD22-A104TemperatureCycling

JESD22-A108Temperature,Bias,AndOperatingLife

JESD22-A110HighlyAcceleratedTemperatureandHumidityStressTest(HAST)

JESD22-A113PreconditioningOfNonhermeticSurfaceMountDevicesPriorToReliabilityTesting

JESD22-A118AcceleratedMoistureResistance-UnbiasedHast

JESD22-B102ESolderability

JESD47StressTestDrivenQualificationOfIntegratedCircuits

JS-001HumanBodyModel(HBM)

JS-002ChargedDeviceModel(CDM)

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

3.1