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NXP 系列：LPC54000 系列 (基于 Cortex-M4)_（9）.LPC54000系列调试技术.docx

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    LPC54000系列调试技术

    在嵌入式系统开发中，调试是一个非常重要的环节。正确的调试方法可以显著提高开发效率，减少错误，确保系统稳定可靠。本节将详细介绍LPC54000系列单片机的调试技术，包括调试工具的使用、调试策略、常见的调试问题及解决方案等。

    调试工具

    1.调试硬件

    JTAG/SWD接口

    LPC54000系列单片机支持JTAG和SWD（SerialWireDebug）接口进行调试。JTAG是一种用于测试和调试复杂电子系统的标准接口，而SWD是一种更简单的调试接口，适用于单片机和小型系统。

    JTAG接口：通常用于多引脚的复杂系统，可以提供更高

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