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基于改进YOLOv5s的弱电板卡表面缺陷检测技术研究
目录
基于改进YOLOv5s的弱电板卡表面缺陷检测技术研究(1).........3
内容综述................................................3
1.1研究背景与意义.........................................5
1.2国内外研究现状.........................................6
1.3研究内容与方法.........................................9
相关理论与技术基础.....................................10
2.1目标检测技术概述......................................11
2.2YOLOv5s模型原理.......................................12
2.3弱电板卡表面缺陷特征分析..............................16
改进YOLOv5s模型设计....................................17
3.1模型架构调整..........................................18
3.2训练策略优化..........................................20
3.3模型性能评估与调优....................................21
数据集准备与处理.......................................22
4.1数据收集与标注........................................23
4.2数据增强技术应用......................................24
4.3数据集划分与使用策略..................................26
实验设计与实施.........................................27
5.1实验环境搭建..........................................28
5.2实验参数设置..........................................30
5.3实验过程记录与分析....................................31
结果分析与讨论.........................................32
6.1检测精度评估..........................................33
6.2查准率与查全率分析....................................34
6.3模型泛化能力探讨......................................36
结论与展望.............................................39
7.1研究成果总结..........................................39
7.2存在问题与不足........................................40
7.3未来研究方向与展望....................................42
基于改进YOLOv5s的弱电板卡表面缺陷检测技术研究(2)........43
内容综述...............................................43
1.1研究背景与意义........................................43
1.2国内外研究现状........................................46
1.3研究内容与方法........................................47
相关理论与技术基础.....................................48
2.1目标检测技术概述......................................50
2.2YOLOv5s模型原理.......................................50
2.3弱电板卡表面缺陷特征分析...............
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