X射线光栅干涉仪相位衬度成像方法：原理、技术与应用的深度剖析.docx

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2025-06-24 发布于上海
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X射线光栅干涉仪相位衬度成像方法：原理、技术与应用的深度剖析.docx

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X射线光栅干涉仪相位衬度成像方法：原理、技术与应用的深度剖析

一、引言

1.1研究背景与意义

1895年，德国物理学家伦琴（WilhelmKonradRontgen）在研究阴极射线管时，意外发现了一种能够穿透物体并使荧光屏发光的未知射线，他将其命名为X射线。这一发现标志着现代物理学的重大突破，也为医学、材料学、工业检测等领域带来了革命性的变化。X射线成像技术作为X射线应用的重要领域，在过去的一百多年里取得了长足的发展。从最初简单的X射线透视成像，到如今的计算机断层扫描（CT）、数字化X射线成像（DR）等先进技术，X射线成像已经成为现代医学诊断和工业无损检测中不可或缺