原创力文档- 1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
- 2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
- 3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
查看更多
摘要
随着航天事业的发展，半导体器件被广泛应用于航天领域。空间高能粒子与航天
器中的半导体器件发生相互作用诱发单粒子效应（Singleeventeffect，SEE），严重影
响航天器的可靠性和寿命。为保证航天器在轨期间的正常运行，必须对半导体器件进
行地面模拟，评估其抗SEE的能力。脉冲激光被证实是SEE地面模拟的重要手段之
一，其关键在于将测试结果与预估的空间辐射环境相联系，准确且有效的评估SEE的
发生率。相较于高能粒子，激光入射器件后所产生的电离径迹宽度较大，且中心电荷
密度
文档评论（0）