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海思芯片HTOL老化测试技术规范.docx

海思芯片HTOL老化测试技术规范.docx

    海思芯片

    海思芯片HTOL老化测试技术标准

    HTOL测试技术标准

    拟制：克鲁鲁尔

    日期：2025-10-30

    历史版本记录

    版本 时间 起草/修改人

    内容描述

    审核人 批准人

    V1.0 2025-10-30

    克鲁鲁尔

    首次公布

    适用范围:

    该测试它以电压、温度拉偏方式，加速的方式模拟芯片的运行状况，用于芯片寿命和长期上电运行的牢靠性评估。本标准适用于量产芯片验证测试阶段的HTOL老化测试需求。

    简介：

    HTOL(HighTemperatureOperatingLife)测试是芯片电路牢靠性的一项关键性的根底测试，它用应力加速的方式模拟芯片的长期运行，以

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