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基于深度学习的光学薄膜元件损伤识别与分类研究
一、引言
随着科技的飞速发展，光学薄膜元件在众多领域中发挥着重要作用。然而，由于使用环境和时间的因素，光学薄膜元件可能会遭受各种形式的损伤，如划痕、污染、裂纹等。这些损伤不仅影响元件的光学性能，还可能对整体设备造成损害。因此，对光学薄膜元件的损伤进行准确、高效的识别与分类至关重要。近年来，随着深度学习技术的发展，其在光学薄膜元件损伤识别与分类领域的应用日益广泛。本文旨在研究基于深度学习的光学薄膜元件损伤识别与分类方法，为实际生产中的损伤检测提供理论支持和技术指导。
二、相关工作
近年来，深度学习在图像识别与分类领域取得了显著的成果。其中，卷积神经网
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