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对恒流模式下STM样品的扫描及成像的数学模型研究
一、扫描隧道显微镜理论基础
上世纪八十年代初，的Binning和Rohrer发明了扫描隧道微
镜（ScanningTunnelingMicroscope），并因此获得了1986年学奖。
在量子力学中，粒子可势垒的现象被称为隧道效应，经典理论认为，动能低于
势垒的电子不能势垒，而根据量子理论，电子具有波动性，其用波函数描述，
波而波函数遵循薛定谔方程，从薛定谔方程的解就可以知道电子在各个区域出现的概率
密度，从而能进一步得出电子穿过势垒的概率。STM正是利用了这个原理。
在STM工作时，针尖与样品十分接近的时候，它们之间的势垒变得非常薄，这时
候就可以观察到隧道电流。由薛定谔方程
−2+=
可推导得理想情况下隧道电流密度与样品和针尖之间的距离的关系为：
=(1)
式中，⁄⁄2
=ℎ2，=(4ℎ)，ℎ为普朗克常数，
ℎ=6.63×10电子质量，=9.1×10kg，隧道距离（nm），V为
探针与样品之间的偏压（V），电子电量1.6×10探针与样品的平均功
函数，为常数，=0.5。
然而上式为只考虑了针尖最尖端的一个原子与样品之间的作用，实际情况中，通
常针尖的形状对于隧道电流也有一定影响。在本次研究性实验中，我们考虑了针尖几
何因素与样品的相互作用。并在隧道效应的基础上建立了适用于平坦表面的STM轮廓
测量模型，并进行了数学仿真以将其验证。
二、模拟仿真
选择表面相对平坦的样品作为实验对象。所谓平坦表面是指：
（1）样品表面起伏不大，探针作用点位置固定不变或其变动较小可以忽略；
（2）探针可以到达样品表面的任意被测点。
在恒流模式下，STM通过反馈回路调节探针与样品之间的距离，从而保持绕着之间
的隧道电流为恒定值。此时，探针的纵向位置变化既反映了样品表面的形状。
为了推导恒流模式下STM对样品的扫描及成像的数学模型，建立如图所示的坐标
系，图1、图2分别为剪切法和电化学腐蚀法所制的针尖对应的模型（根据文献以及实
际观察，剪切法制得的探针尖端近似为三棱锥，电化学腐蚀法制得的针尖近似为抛物
线形状，这里都取其纵剖面）。
探针探针
()
图中，)为针尖表面轮廓函数，为被测样品表面函数，)表示测
()
的的图像。任意点的隧道距离为：
()()
=)+)−(2)
将式(2)代入式(1)中，得到：
=()
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