探究DRC圈覆盖：从原理、算法到应用优化.docx

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2025-07-14 发布于上海
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探究DRC圈覆盖：从原理、算法到应用优化

一、引言

1.1研究背景与动机

在当今数字化时代，芯片作为各种电子设备的核心组件，其设计与制造的精度和可靠性至关重要。设计规则检查（DesignRuleCheck，DRC）在芯片设计流程中扮演着举足轻重的角色，是确保芯片物理布局符合制造工艺要求的关键步骤。从本质上讲，DRC就如同建筑设计中的质量检测环节，建筑需依据既定标准和规范进行建造，否则可能出现安全隐患或无法满足使用需求；类似地，芯片设计也必须遵循严格的工艺规则，任何违反规则的设计都可能导致芯片在制造过程中出现问题，如线路短路、信号干扰等，进而影响芯片的正常工作，甚至导致制造失败。

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