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2025年石油石化技能考试-无损探伤工历年参考题库含答案解析(5套典型考题)
2025年石油石化技能考试-无损探伤工历年参考题库含答案解析(篇1)
【题干1】超声波检测中,当被检测材料的晶粒取向与声束传播方向平行时,容易导致缺陷回波信号减弱,这种现象称为()
【选项】A.材料各向同性;B.材料各向异性;C.材料导热性;D.材料磁性
【参考答案】B
【详细解析】超声波检测时,材料晶粒取向的各向异性会导致声波在平行于晶界的传播路径中衰减加剧,从而影响缺陷回波信号强度。材料各向同性(A)指材料物理性质均匀,与晶粒取向无关;材料导热性(C)和磁性(D)与超声波衰减无直接关联。
【题干2】射线检测中,胶片黑度不足会导致()
【选项】A.缺陷轮廓模糊;B.胶片过度曝光;C.底片成像反差增大;D.检测效率提高
【参考答案】A
【详细解析】胶片黑度过低时,缺陷与基体对比度不足,无法清晰区分裂纹或气孔等缺陷。黑度不足不会导致过度曝光(B)或反差增大(C),反而会降低成像质量;检测效率(D)与黑度无直接关系。
【题干3】磁粉检测中,磁化方向应与缺陷长边()
【选项】A.垂直;B.平行;C.成45°角;D.随机
【参考答案】B
【详细解析】磁化方向需与缺陷长边平行,以确保磁感线在缺陷处集中,增强漏磁场信号。若垂直(A)或成45°角(C),漏磁场分布不集中,降低检测灵敏度;随机(D)磁化方向无法保证检测一致性。
【题干4】渗透检测中,清洗时间不足会导致()
【选项】A.渗透剂残留;B.清洗剂未完全去除;C.缺陷显示模糊;D.检测时间延长
【参考答案】A
【详细解析】清洗时间不足时,渗透剂无法完全被去除,残留的渗透剂会与显像剂结合,掩盖缺陷实际形态。清洗剂未完全去除(B)会导致类似问题,但更易被后续步骤发现;缺陷显示模糊(C)是最终结果,而非直接原因;检测时间延长(D)是清洗不足的间接后果。
【题干5】超声波检测中,当缺陷尺寸小于0.1mm时,通常采用()检测方法
【选项】A.脉冲回波法;B.连续波法;C.脉冲反射法;D.声发射法
【参考答案】B
【详细解析】连续波法通过宽频声束扫描,适用于微小缺陷(0.1mm)的检测,其高分辨率可捕捉微小反射信号。脉冲回波法(A)和反射法(C)适用于较大缺陷;声发射法(D)需依赖缺陷活动产生的声波信号。
【题干6】射线检测中,穿透能力与()成正比
【选项】A.材料厚度;B.材料密度;C.射线能量;D.胶片灵敏度
【参考答案】A
【详细解析】材料厚度增加会显著降低射线穿透能力,需提高管电压或改用更高能量射线(C)。材料密度(B)影响射线衰减率,但非直接决定穿透能力的主因;胶片灵敏度(D)与检测灵敏度相关,而非穿透能力。
【题干7】磁粉检测中,缺陷的磁化率越高,漏磁场强度()
【选项】A.越强;B.越弱;C.不变;D.随磁场强度变化
【参考答案】A
【详细解析】缺陷磁化率越高,磁化后产生的磁极化强度越大,导致漏磁场强度增强。漏磁场强度(D)受磁场强度和缺陷磁化率共同影响,但缺陷磁化率是决定漏磁场的主因。
【题干8】超声波检测中,增益调节过大会导致()
【选项】A.材料声速变化;B.探伤仪灵敏度下降;C.背景噪声增加;D.缺陷回波衰减
【参考答案】C
【详细解析】增益过大会放大探伤仪接收通道的噪声信号,使背景噪声显著增加,干扰缺陷回波识别。材料声速(A)由介质决定,与增益无关;灵敏度下降(B)是增益不足的表现;缺陷回波衰减(D)与增益调节方向相关。
【题干9】射线检测中,GB/T3323-2005标准规定,对接焊缝的检测比例不得低于()
【选项】A.20%;B.50%;C.100%;D.10%
【参考答案】C
【详细解析】GB/T3323-2005要求对接焊缝射线检测比例不低于100%,即全焊缝检测。其他选项为常见误选项,如50%(B)适用于某些特定场景,但非强制性要求。
【题干10】渗透检测中,显像时间不足会导致()
【选项】A.渗透剂未完全挥发;B.缺陷轮廓不清晰;C.显像剂未充分渗透;D.检测效率降低
【参考答案】B
【详细解析】显像时间不足时,显像剂无法充分与渗透剂反应生成白色沉淀,导致缺陷显示轮廓模糊。渗透剂挥发(A)是显像时间不足的次要因素;显像剂未渗透(C)是显像时间不足的直接原因,但最终表现为缺陷显示不清晰(B)。
【题干11】超声波检测中,缺陷反射回波高度与()成正比
【选项】A.缺陷尺寸;B.材料声速;C.探伤仪增益;D.磁场强度
【参考答案】A
【详细解析】缺
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