材料分析测试技术试题及答案.docxVIP

材料分析测试技术试题及答案

一、单项选择题（每题2分，共20分）

1.以下哪种技术可用于分析材料的晶体结构和晶格常数？（）

A.扫描电子显微镜（SEM）

B.X射线衍射（XRD）

C.原子力显微镜（AFM）

D.差示扫描量热法（DSC）

2.扫描电子显微镜（SEM）的成像主要依赖于（）。

A.透射电子

B.二次电子

C.特征X射线

D.背散射电子

3.用于表征材料表面元素化学状态的分析技术是（）。

A.X射线光电子能谱（XPS）

B.能量色散X射线光谱（EDS）

C.热重分析（TG）

D.拉曼光谱（Raman）

4.透射电子显微镜（TEM）的分辨率主要取决于（）。

A.样品厚度

B.电子束加速电压

C.物镜光阑尺寸

D.扫描速度

5.差示扫描量热法（DSC）可用于测量材料的（）。

A.热分解温度

B.密度

C.表面粗糙度

D.弹性模量

6.拉曼光谱与红外光谱的主要区别在于（）。

A.拉曼检测分子振动，红外检测分子转动

B.拉曼适用于水溶液，红外不适用于水

C.拉曼基于光的吸收，红外基于光的散射

D.拉曼分辨率更高，红外灵敏度更高

7.热重分析（TG）曲线中质量骤降的区间通常对应材料的（