JIS C 5402-16-2-2012 电子设备用连接器.试验和测量.第16-2部分_触点和终端的机械试验.试验16b_受限制的入口.docxVIP

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C5402-16-2:2012(IEC60512-16-2:2008)

目次

尺一ジ

序文 1

1適用範囲 1

2引用規格 1

3準備 2

3.1試料 2

3.2装置 2

3.3前処理 2

3.4取付け 2

4試験方法 2

4.1手順 2

4.2测定及び要求事項 2

5個別規格に規定する事項 2

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C5402-16-2:2012(IEC60512-16-2:2008)

支之炉寺

乙の規格仗,工業標準化法第12条第1項の規定亿基→寺,一般社团法人電子情報技術産業協会(JEITA)及述一般財团法人日本規格協会(JSA)扒兮,工業標準原案走具Lτ日本工業規格走制定寸八寺匕の申出炉南n,日本工業標準調查会の審議走經τ,經济産業大臣炉制定L忆日本工業規格で南石。

乙の規格仗,著作榷法で保護対象匕女→τ

石著作物で南石。

乙の規格の一部炉,特許榷,出願公開後の特許出願又仗害用新案榷亿抵触寸石可能性炉南石乙匕亿注意走喚起寸石。經济産業大臣及述日本工業標準調査会仗,乙の丈亏女特許榷,出願公開後の特許出願及述害用新案榷亿関打石確認亿→

τ,責任仗古忆女

。

JISC5402の規格群の部細成仗,JISC5402-1-100:武驗一覽亿丈石。

日本工業規格JIS

C5402-16-2:2012

(IEC60512-16-2:2008)

電子機器用コネクター試験及び測定一

第16-2部:コンタクト及びターミネーションの

機械的試験一試験16b:リストリクテッドェントリConnectorsforelectronicequipment—Testsandmeasurements—

Part16-2:Mechanicaltestsoncontactsandterminations—

Test16b:Restrictedentry

序文

この規格は,2008年に第1版として発行されたIEC60512-16-2を基に,技術的内容及び構成を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にない事項である。

1適用範囲

この規格は,電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。)に適用する。個別規格に規定がある場合には,類似の部品にも用いてよい。

この規格は,規定の寸法より大きなおすコンタクト,又は類似の形状の物体を,めすコンタクトに捕入することを防止するために,めすコンタクトに設けた設計機構の有効性を評価するための試験方法について規定する。

注記1この規格に規定する試験は,主に,円筒形のコンタクトに適用するが,その他の形状のコン

タクトへの適用を除外するものではない。その場合には,試験の詳細[簡条5e)参照]を個別規格に含んでいることがましい。

注記2リストリクテッドエントりとは,規格外の大きなピンの插人を防ぐためにめすヨンタクト又は絶緑体に設けた設計機横をいえ。…

注記3この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC60512-16-2:2008,Connectorsforelectronicequipment—Testsandmeasurements—Part16-2:

Mechanicaltestsoncontactsandterminations—Test16b:Restrictedentry(IDT)

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IECGuide21-1に基づき,“一致している”ことを示す。

2引用規格

次に揭げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。この引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。

JISC5402-1-1電子機器用コネクター試験及び測定一第1-1部:一般試験一試験la:外観

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