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说明书摘要
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本实用新型公开了一种薄膜测厚仪安装结构,包括支撑件和测量件,支撑件包括支架,且两个支架的上部设置有用于夹持薄膜的夹持件,夹持件包括托板,托板水平设置在两个支架的上部,且托板的顶面上对称固定有两块滑框,滑框的前端面底部水平固定有下夹条,且下夹条的上方水平设置有上夹条,上夹条竖直滑动安装早滑框的上部,测量件包括支条,支条水平固定在托板前端面上,且支条的上部水平滑动安装有推框,推框靠近托板的一侧开口设置,且推框的开口端上部固定有测厚仪。本实用新型克服现有测量时会对薄膜造成一定的拉扯发生褶皱,进而造成褶皱薄膜形变,褶皱薄膜厚度会发生变化,从而影响厚度测量的数据,造成测量精度变差的问题。
摘要附图
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权利要求书
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一种薄膜测厚仪安装结构,其特征在于,包括支撑件(1)和测量件(2),所述支撑件(1)包括支架(11),所述支架(11)对称设置有两个,且两个支架(11)的上部设置有用于夹持薄膜的夹持件(13),所述夹持件(13)包括托板(131),所述托板(131)水平设置在两个支架(11)的上部,且托板(131)的顶面上对称固定有两块滑框(133),所述滑框(133)的前端面底部水平固定有下夹条(134),且下夹条(134)的上方水平设置有上夹条(135),所述上夹条(135)竖直滑动安装早滑框(133)的上部,所述测量件(2)包括支条(21),所述支条(21)水平固定在托板(131)前端面上,且支条(21)的上部水平滑动安装有推框(24),所述推框(24)靠近托板(131)的一侧开口设置,且推框(24)的开口端上部固定有测厚仪(26)。
根据权利要求1所述的一种薄膜测厚仪安装结构,其特征在于,所述支架(11)的顶端面上竖直螺纹安装有支撑螺杆(12),且支撑螺杆(12)的顶端转动连接在托板(131)的底面上。
根据权利要求2所述的一种薄膜测厚仪安装结构,其特征在于,所述托板(131)的顶面上水平固定有水平仪(132)。
根据权利要求1所述的一种薄膜测厚仪安装结构,其特征在于,所述上夹条(135)的顶端面上竖直固定有导杆(136),且导杆(136)顶端滑动贯穿滑框(133)的顶面设置。
根据权利要求4所述的一种薄膜测厚仪安装结构,其特征在于,所述导杆(136)上竖直套设有第一弹簧(137),且第一弹簧(137)的两端分别固定在导杆(136)的顶端和滑框(133)的顶面上。
根据权利要求1所述的一种薄膜测厚仪安装结构,其特征在于,所述支条(21)远离托板(131)的端部竖直转动连接有转杆(22),且转杆(22)的顶端水平固定有滑块(23)。
根据权利要求6所述的一种薄膜测厚仪安装结构,其特征在于,所述推框(24)的底部水平面上开设有滑槽(25),且滑槽(25)与滑块(23)滑动配合连接。
说明书
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一种薄膜测厚仪安装结构
技术领域
本实用新型涉及薄膜测厚仪技术领域,尤其涉及一种薄膜测厚仪安装结构。
背景技术
塑料薄膜厚度测量仪适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量,在薄膜生产后,为了测量薄膜的厚度是否达到生产标准,需要用到薄膜测厚仪测量薄膜来为其提供厚度数据,判断薄膜的厚度时,不能仅仅依靠单一位置厚度数据判断薄膜厚度是否达标,需要对薄膜的多个位置进行数据测量计算平均厚度,测量时需要手持薄膜测厚仪对张紧的薄膜进行多处测量,用于判断薄膜厚度。
但是现有的手持薄膜测厚仪本身不具有托举支撑结构,测量薄膜多处位置时,需要移动切换测量位置,这就导致了内次切换的位置高度不能保持完全一致,从而导致测量时会对薄膜造成一定的拉扯发生褶皱,进而造成褶皱薄膜形变,褶皱薄膜厚度会发生变化,从而影响厚度测量的数据,造成测量精度变差。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种薄膜测厚仪安装结构,旨在改善上述的问题。
本实用新型是这样实现的:
一种薄膜测厚仪安装结构,包括支撑件和测量件,支撑件包括支架,支架对称设置有两个,且两个支架的上部设置有用于夹持薄膜的夹持件,夹持件包括托板,托板水平设置在两个支架的上部,且托板的顶面上对称固定有两块滑框,滑框的前端面底部水平固定有下夹条,且下夹条的上方水平设置有上夹条,上夹条竖直滑动安装早滑框的上部,测量件包括支条,支条水平固定在托板前端面上,且支条的上部水平滑动安装有推框,推框靠近托板的一侧开口设置,且推框的开口端上部固定有测厚仪。
进一步的,支架的顶端面上竖直螺纹安装有支撑螺杆,且支撑螺杆的顶端转动连接在托板的底面上。
进一步的,托板的顶面上水平固定有水平仪。
进一步的,上夹条的顶端面上竖直固定有导杆,且导杆顶端滑动贯穿滑框的顶面设置。
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