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ICS31.200
CCSL56
团体标准
T/CSAExx－20xx
汽车芯片电磁兼容性试验方法第2部分：
电源管理芯片
EMCtestmethodofautomotivechip—Part2：Powermanagementchip
（报批稿）
20xx-xx-xx发布20xx-xx-xx实施
中国汽车工程学会发布
T/CSAExx—20xx
目次
前言II
引言III
1范围1
2规范性引用文件1
3术语和定义1
4缩略语1
5试验条件2
5.1环境条件2
5.2电磁环境2
5.3被测样品2
5.4试验设备2
6试验方法2
6.1电磁辐射发射试验2
6.2电磁传导发射试验（1Ω/150Ω直接耦合法）3
6.3电磁辐射抗扰度试验3
6.4电磁传导抗扰度试验（射频功率直接注入法）4
6.5脉冲抗扰度（非同步瞬态注入法）4
7判定准则4
7.1电磁辐射发射试验4
7.2电磁传导发射试验（1Ω/150Ω直接耦合法）5
7.3电磁辐射抗扰度试验6
7.4电磁传导抗扰度试验（射频功率直接注入法）6
7.5脉冲抗扰度试验（非同步瞬态注入法）7
8试验报告8
附录A（资料性）电源管理芯片的工作状态9
附录B（资料性）试验布置示意图10
B.1电磁辐射发射试验布置10
B.2电磁传导发射试验（1Ω/150Ω直接耦合法）布置11
B.3电磁传导抗扰度试验（射频功率直接注入法）布置11
B.4脉冲抗扰度试验（非同步瞬态注入法）11
附录C（规范性）电源管理芯片的抗扰度性能等级13
I
T/CSAExx—20xx
前 言
本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起
草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利，本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由中国汽车芯片产业创新战略联盟提出。
本文件由中国汽车工程学会标准化工作委员会归口。
本文件起草单位：工业和信息化部电子第五研究所、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、
合肥艾创微电子科技有限公司、中汽研新能源汽车检验中心（天津）有限公司、湖南进芯电子科技有限
公司、一汽奔腾汽车股份有限公司、安立通讯科技（上海）有限公司、北京经纬恒润科技股份有限公司
圣邦微电子（北京）股份有限公司、中国重型汽车集团、中国汽车工程研究院股份有限公司、宇通客车
股份有限公司、北京国创先进技术认证有限公司、北京经济技术开发区国创芯联汽车芯片技术研究中心、
中山大学、襄阳达安汽车检测中心有限公司、广州汽车集团股份有限公司、北京智芯微电子科技有限公
司。
本文件主要起草人：陈义强、方文啸、黄权、王之哲、邵伟恒、李齐、陈赛华、王威、韩磊、王云、
马俊杰、吴顺峰、刘杨、王建利、赵雁飞、王显赫、童心、钱忠卫、郭庆波、高崧林、赵一成、姜海滔、
张高杰、熊赛赛、刘英、邹广才、雷黎丽、郑广州、王华春、李莎莎、杨伟、邴俊俊、付国良、赵扬、
成睿琦。
II
T/CSAExx—20xx
引 言
T/CSAEXXX结合汽车应用需求，对关键汽车芯片规定了特定频率范围内的电磁辐射发射、电磁传
导发射、电磁辐射抗扰度、电磁传导抗扰
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