《GB_T 45114-2024纳米技术 透射电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布》专题研究报告.pptx

;目录;;;GB/T45114-2024的核心定位：立足透射电镜技术的标准化蓝图;从产业端看，标准统一了测量标尺，降低企业间数据互认成本，加速产品研发与市场化进程；从监管端，为纳米产品质量抽检提供法定依据，保障消费者权益；从科研端，推动学术成果的可复现性与交流合作，助力我国在纳米科技领域的技术引领与国际话语权提升。;;透射电子显微术的适配性：为何成为纳米颗粒测量的优选技术？;;技术原理的标准化解读：电子成像与颗粒表征的内在关联;;;不同类型样品的制备流程：标准中的针对性操作指南;标准要求通过透射电镜初步观察验证制备质量：单颗粒占比需不低于90%，无明显团聚或杂质干扰。同时规定需