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2025年大模型在超大规模集成电路测试中的缺陷优化答案及解析.docx

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    2025年大模型在超大规模集成电路测试中的缺陷优化答案及解析

    一、单选题（共15题）

    1.以下哪项技术被广泛应用于超大规模集成电路测试中的缺陷优化，以提升测试效率和准确性？

    A.神经架构搜索（NAS）

    B.分布式训练框架

    C.模型量化（INT8/FP16）

    D.知识蒸馏

    2.在大模型应用于超大规模集成电路测试时，如何有效解决梯度消失问题？

    A.使用ReLU激活函数

    B.增加网络层数

    C.应用梯度累积技术

    D.使用Adam优化器

    3.在超大规模集成电路测试中，对抗性攻击防御技术的主要目的是什么？

    A.提高测试结果的可靠性

    B.降低测试成本

    C.加快测试速度

    D.

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