数字集成电路测试压缩中的低功耗策略与创新实践研究.docx

数字集成电路测试压缩中的低功耗策略与创新实践研究.docx

  1. 1、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。。
  2. 2、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
  3. 3、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多

数字集成电路测试压缩中的低功耗策略与创新实践研究

一、引言

1.1研究背景与意义

随着信息技术的飞速发展,数字集成电路作为现代电子系统的核心部件,其应用领域不断拓展,涵盖了计算机、通信、消费电子、汽车电子、工业控制等诸多领域,成为推动各行业技术进步和创新的关键力量。从智能手机中实现高速数据处理和图形渲染的芯片,到服务器中支撑大规模数据运算和存储的集成电路,再到物联网设备里负责感知、通信和控制的微控制器,数字集成电路无处不在,为人们的生活和工作带来了极大的便利和效率提升。

在数字集成电路的发展历程中,集成度和性能的提升一直是重要的发展方向。根据摩尔定律,集成电路上可容纳的晶体管数目,约每隔1

您可能关注的文档

文档评论(0)

1234554321 + 关注
实名认证
内容提供者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档