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XPS与XAS联用对催化剂活性中心电子结构的表征考核试卷
一、单项选择题(每题1分,共30题)
1.XPS主要用于分析材料的什么信息?
A.原子种类
B.化学键
C.电子结构
D.晶体结构
2.XAS技术中,哪个谱线常用于分析过渡金属元素的局域电子结构?
A.XPS谱线
B.XANES谱线
C.XES谱线
D.XRD谱线
3.XPS分析中,哪个参数决定了样品表面灵敏度?
A.探测深度
B.发射角
C.功率
D.电流
4.XAS技术中,哪个区域对化学环境最敏感?
A.XANES区域
B.XES区域
C.XRD区域
D.XPS区域
5.XPS谱图中,哪个峰对应样品的背景信号?
A.Si2p峰
B.C1s峰
C.O1s峰
D.基线
6.XAS技术中,哪个参数用于描述吸收边的变化?
A.吸收系数
B.吸收边位置
C.吸收强度
D.吸收宽度
7.XPS分析中,哪个元素的特征峰常用于校正样品的荷电效应?
A.C1s
B.O1s
C.N1s
D.Si2p
8.XAS技术中,哪个谱线常用于分析轻元素?
A.K边
B.L边
C.M边
D.N边
9.XPS谱图中,哪个峰对应样品的表面污染?
A.Si2p峰
B.C1s峰
C.O1s峰
D.基线
10.XAS技术中,哪个参数用于描述吸收谱线的形状?
A.吸收系数
B.吸收边位置
C.吸收强度
D.吸收宽度
11.XPS分析中,哪个参数决定了样品的分辨率?
A.探测深度
B.发射角
C.功率
D.电流
12.XAS技术中,哪个区域对原子序数变化最敏感?
A.XANES区域
B.XES区域
C.XRD区域
D.XPS区域
13.XPS谱图中,哪个峰对应样品的表面氧化物?
A.Si2p峰
B.C1s峰
C.O1s峰
D.基线
14.XAS技术中,哪个参数用于描述吸收谱线的强度?
A.吸收系数
B.吸收边位置
C.吸收强度
D.吸收宽度
15.XPS分析中,哪个参数决定了样品的检测灵敏度?
A.探测深度
B.发射角
C.功率
D.电流
16.XAS技术中,哪个区域对化学键合信息最敏感?
A.XANES区域
B.XES区域
C.XRD区域
D.XPS区域
17.XPS谱图中,哪个峰对应样品的表面氮化物?
A.Si2p峰
B.C1s峰
C.N1s峰
D.基线
18.XAS技术中,哪个参数用于描述吸收谱线的宽度?
A.吸收系数
B.吸收边位置
C.吸收强度
D.吸收宽度
19.XPS分析中,哪个参数决定了样品的检测范围?
A.探测深度
B.发射角
C.功率
D.电流
20.XAS技术中,哪个区域对电子结构变化最敏感?
A.XANES区域
B.XES区域
C.XRD区域
D.XPS区域
21.XPS谱图中,哪个峰对应样品的表面碳酸盐?
A.Si2p峰
B.C1s峰
C.O1s峰
D.基线
22.XAS技术中,哪个参数用于描述吸收谱线的位置?
A.吸收系数
B.吸收边位置
C.吸收强度
D.吸收宽度
23.XPS分析中,哪个参数决定了样品的检测精度?
A.探测深度
B.发射角
C.功率
D.电流
24.XAS技术中,哪个区域对局域电子结构最敏感?
A.XANES区域
B.XES区域
C.XRD区域
D.XPS区域
25.XPS谱图中,哪个峰对应样品的表面硅酸盐?
A.Si2p峰
B.C1s峰
C.O1s峰
D.基线
26.XAS技术中,哪个参数用于描述吸收谱线的形状?
A.吸收系数
B.吸收边位置
C.吸收强度
D.吸收宽度
27.XPS分析中,哪个参数决定了样品的检测灵敏度?
A.探测深度
B.发射角
C.功率
D.电流
28.XAS技术中,哪个区域对化学环境最敏感?
A.XANES区域
B.XES区域
C.XRD区域
D.XPS区域
29.XPS谱图中,哪个峰对应样品的表面硫化物?
A.Si2p峰
B.C1s峰
C.S2p峰
D.基线
30.XAS技术中,哪个参数用于描述吸收谱线的强度?
A.吸收系数
B.吸收边位置
C.吸收强度
D.吸收宽度
二、多项选择题(每题2分,共20题)
1.XPS技术可以分析哪些元素?
A.金属元素
B.非金属元素
C.稀土元素
D.碳元素
2.XAS技术包括哪些谱线?
A.XANES谱线
B.XES谱线
C.XPS谱线
D.XRD谱线
3.XPS分析中,哪些参数会影响样品的检测灵敏度?
A.探测深度
B.发射角
C.功率
D.电流
4.XAS技术中,哪些区域对化学环境敏感?
A.XANES区域
B.XES区域
C.XRD区域
D.XPS区域
5.XPS谱图中,哪些峰对应样品的表面污染物?
A.Si2p峰
B.C1s峰
C.O1s峰
D.基线
6.XAS技术中,哪些参数用于描述吸收谱线的形状?
A.吸收系数
B.吸收边位置
C.吸收强度
D.吸收宽度
7.XPS分析中,哪些参数会影响
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