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- 2025-10-08 发布于北京
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材料结构分析表面显微技术演示文稿;材料结构分析表面显微技术;思考题:
1、TEM和SEM的区别与联系?;TEMimage;SEMimage;思考题:
1、STM技术的方法特点?;用来研究材料表面的微观结构及其形态等的分析方法,主要有:
透射电子显微镜(TEM);
扫描电子显微镜(SEM);
扫描隧道显微镜(STM);
原子力显微镜(AFM).;TEM可以最直观地给出纳米材料颗粒大小、形状、粒度分布等参数,电镜照片一目了然。用高分辨率透射电镜HRTEM还可得到有关晶体结构的信息。;德布罗意波或物质波:实物粒子的运动,既可用动量、能量来描述,也可用波长、频率来描述。在有些情况下,粒子性表现突出些,在另一情况下,又是波动性表现突出些。这就是实物粒子的波粒二象性。实物粒子的这种波就叫德布罗意波或物质波。联系粒子性和波动性关系式为:;2、分辨率R:TEM能够明显分辨两个间距最小的物点和
晶面的能力。通常可达0.1nm。;3)X射线能谱分析(EDS):
高能电子入射样品后使原子内壳层电子被激发电离,而后原子在回复基态过程中能够产生特征X射线。根据特征X射线的波长和强度就可进行定性与定量分析。;5、高分辨透射电子显微镜(HRTEM):;6、TEM应用举例;ZnO
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